Microfocus Bremsstrahlung Source Based on a Narrow Internal Target of a Betatron; Journal of Nondestructive Evaluation; Vol. 37, iss. 1

Xehetasun bibliografikoak
Parent link:Journal of Nondestructive Evaluation
Vol. 37, iss. 1.— 2018.— [13, 8 p.]
Egile korporatiboa: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Центр промышленной томографии Научно-производственная лаборатория "Бетатронная томография крупногабаритных объектов", Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов
Beste egile batzuk: Rychkov M. M. Maksim Mikhailovich, Kaplin V. V. Valery Viktorovich, Malikov E. L. Evgeny Lvovich (L'vovich), Smolyanskiy V. A. Vladimir Aleksandrovich, Gentselman V. Valentin, Vaskovsky I. K. Ivan Kirillovich
Gaia:Title screen
The paper addresses the research into the properties of bremsstrahlung generated by interaction of the internal electron beam of the 18 MeV betatron with narrow targets, 50 and 8μm8μm thick Si crystals and 13μm13μm thick Ta foil with a length of 4 mm along the electron beam, mounted in the goniometer inside the betatron chamber. The radiation beams generated in the targets were used to obtain the images of a microstructure of thin wire pairs and an object that consisted of four steel bars with 10μm10μm gaps between them. The images indicate high absorption contrast of their components due to a small horizontal size of the radiation source the width of which in the cases of Si crystals and Ta foil was 30-, 187- and 115-fold smaller than the diameter of the electron beam, respectively. The edge phase-contrast was also observed due to high spatial coherency of the radiation with the linear microfocus generated in the source based on the B-18 betatron with a narrow target inside.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: 2018
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:https://doi.org/10.1007/s10921-018-0464-6
Formatua: Baliabide elektronikoa Liburu kapitulua
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=657965

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 657965
005 20250403135542.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\24905 
090 |a 657965 
100 |a 20180418d2018 k||y0rusy50 ba 
101 0 |a eng 
102 |a US 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Microfocus Bremsstrahlung Source Based on a Narrow Internal Target of a Betatron  |f M. M. Rychkov [et al.] 
203 |a Text  |c electronic 
300 |a Title screen 
320 |a [References: 16 tit.] 
330 |a The paper addresses the research into the properties of bremsstrahlung generated by interaction of the internal electron beam of the 18 MeV betatron with narrow targets, 50 and 8μm8μm thick Si crystals and 13μm13μm thick Ta foil with a length of 4 mm along the electron beam, mounted in the goniometer inside the betatron chamber. The radiation beams generated in the targets were used to obtain the images of a microstructure of thin wire pairs and an object that consisted of four steel bars with 10μm10μm gaps between them. The images indicate high absorption contrast of their components due to a small horizontal size of the radiation source the width of which in the cases of Si crystals and Ta foil was 30-, 187- and 115-fold smaller than the diameter of the electron beam, respectively. The edge phase-contrast was also observed due to high spatial coherency of the radiation with the linear microfocus generated in the source based on the B-18 betatron with a narrow target inside. 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
461 |t Journal of Nondestructive Evaluation 
463 |t Vol. 37, iss. 1  |v [13, 8 p.]  |d 2018 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a бетатроны 
610 1 |a лучи 
610 1 |a тормозное излучение 
610 1 |a гамма-лучи 
610 1 |a угловые распределения 
701 1 |a Rychkov  |b M. M.  |c physicist  |c Head of the laboratory of Tomsk Polytechnic University, Candidate of technical sciences  |f 1977-  |g Maksim Mikhailovich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\32262  |9 16251 
701 1 |a Kaplin  |b V. V.  |c physicist  |c senior research fellow at Tomsk Polytechnic University  |f 1947-  |g Valery Viktorovich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\31532 
701 1 |a Malikov  |b E. L.  |c physicist  |c Researcher of Tomsk Polytechnic University  |f 1978-  |g Evgeny Lvovich (L'vovich)  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\32863  |9 16711 
701 1 |a Smolyanskiy  |b V. A.  |c Specialist in the field of instrument engineering  |c Researcher, Tomsk Polytechnic University, Candidate of Technical Sciences  |f 1991-  |g Vladimir Aleksandrovich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\38302  |9 20730 
701 1 |a Gentselman  |b V.  |c physicist  |c engineer of Tomsk Polytechnic University  |f 1991-  |g Valentin  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\36460 
701 1 |a Vaskovsky  |b I. K.  |c specialist in the field of accelerating equipment  |c Leading engineer of Tomsk Polytechnic University  |f 1941-  |g Ivan Kirillovich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\37633 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |b Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности  |b Центр промышленной томографии  |b Научно-производственная лаборатория "Бетатронная томография крупногабаритных объектов"  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\23717 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |b Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности  |b Отделение электронной инженерии  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\23507 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |b Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов  |c (2017- )  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\23551 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20180418  |g RCR 
856 4 |u https://doi.org/10.1007/s10921-018-0464-6 
942 |c CF