К исследованиям генерации излучения при скользящем взаимодействии внутреннего пучка бетатрона со слоистыми периодическими структурами; Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования; № 6

Bibliografski detalji
Parent link:	Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования.— , 1995- № 6.— 2017.— [С. 93-97]
Autori kompanije:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Центр промышленной томографии Научно-производственная лаборатория "Бетатронная томография крупногабаритных объектов", Национальный исследовательский Томский политехнический университет Школа базовой инженерной подготовки Отделение естественных наук
Daljnji autori:	Рычков М. М. Максим Михайлович, Каплин В. В. Валерий Викторович, Кузнецов С. И. Сергей Иванович, Сухарников К. В. Константин Владимирович, Васьковский И. К. Иван Кириллович
Sažetak:	Заглавие с экрана Представлены полученные впервые экспериментальные результаты исследования генерации рентгеновского тормозного излучения при скользящем взаимодействии внутреннего пучка 18 МэВ электронов бетатрона Б-18 с ББкристаллом толщиной 50 мкм и длиной 4 мм вдоль пучка электронов. Эксперименты относятся к исследованиям генерации излучения при скользящем взаимодействии электронов со слоистыми структурами, созданными на поверхности тонких 8ьподложек. Для излучения из слоистых структур излучение от подложек является интенсивным и сильно изменяющимся с ориентацией подложки фоном, что необходимо учитывать при измерениях ориентацион-ных зависимостей характеристик, например, излучений, генерированных в рентгеновских зеркалах и волноводах. The first results of the experiment on the generation of X-Ray bremsstrahlung at grazing interaction of the internal beam of 18 MeV electrons of a betatron B-18 with a Si crystal with a thickness of 50 microns and a length of 4 mm along the electron beam are presented. The experiment relates to the research of generation of radiation at grazing electron interaction with layered structures created on the surface of thin Si substrates. For the emission of radiation from the layered structures, the radiation from the substrates is intensive background, which strongly changes with the orientation of the substrate. It must be taken into account at measurements of the orientational dependency of characteristics, for example, of radiations generated in the X-Ray mirrors and waveguides. Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Jezik:	ruski
Izdano:	2017
Teme:	труды учёных ТПУ электронный ресурс бетатроны релятивистские электроны поверхностные слои рентгеновское излучение угловые распределения ориентационные соотношения
Online pristup:	https://elibrary.ru/item.asp?id=29404685
Format:	Elektronički Poglavlje knjige
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=657953