Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Ulenekov O. N. Oleg Nikolaevich, Bekhtereva E. S. Elena Sergeevna, Gromova O. V. Olga Vasilievna, Quack M. Martin, Mellau G. Ch Georg, . . . Bauerecker S. Sigurd. (2018). Extended analysis of the high resolution FTIR spectrum of 32S16O2 in the region of the ν2 band: Line positions, strengths, and pressure broadening widths. 2018. https://doi.org/10.1016/j.jqsrt.2018.02.010
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Ulenekov O. N. Oleg Nikolaevich, Bekhtereva E. S. Elena Sergeevna, Gromova O. V. Olga Vasilievna, Quack M. Martin, Mellau G. Ch Georg, Sydow C. Christian, and Bauerecker S. Sigurd. Extended Analysis of the High Resolution FTIR Spectrum of 32S16O2 in the Region of the ν2 Band: Line Positions, Strengths, and Pressure Broadening Widths. 2018, 2018. https://doi.org/10.1016/j.jqsrt.2018.02.010.
MLA citiranjeНациональный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Extended Analysis of the High Resolution FTIR Spectrum of 32S16O2 in the Region of the ν2 Band: Line Positions, Strengths, and Pressure Broadening Widths. 2018, 2018. https://doi.org/10.1016/j.jqsrt.2018.02.010.