Natural Oxidation of Ultra-Thin Copper Films; Russian Physics Journal; Vol. 60, iss. 9

書誌詳細
Parent link:Russian Physics Journal
Vol. 60, iss. 9.— 2018.— [P. 1559-1564]
共著者: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Научно-образовательный центр Б. П. Вейнберга, Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Инженерная школа новых производственных технологий (ИШНПТ) Отделение материаловедения (ОМ)
その他の著者: Semenov V. A. Vyacheslav Arkadjevich, Oskirko V. O. Vladimir Olegovich, Rabotkin S. V. Sergey Viktorovich, Oskomov K. V. Konstantin Vladimirovich, Soloviev A. A. Andrey Aleksandrovich, Stepanov S. A. Sergey Aleksandrovich
要約:Title screen
The paper examines the oxidation of polycrystalline Cu films under the impact of ambient atmosphere in the course of extended time (from 20 to 90 days). It shows that in the case of 10 nm thick Cu films deposited onto the glass substrate by method of magnetron sputtering, one eventually observes the increase in transparency, surface resistance and surface roughness, as well as the decrease in reflection in the area of near infrared region. The most dramatic changes occur in films deposited in the pulse mode of sputtering with frequency of 3 kHz compared to films deposited in the direct current mode. Formation of sublayer ZnO:Al and 20 nm thick upper passivating layer ZnO:Al allows effectively preventing the oxidation of thin copper films under the impact of ambient atmosphere.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
言語:英語
出版事項: 2018
主題:
オンライン・アクセス:https://doi.org/10.1007/s11182-018-1251-7
フォーマット: 電子媒体 図書の章
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=657751

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 657751
005 20250122183954.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\24477 
090 |a 657751 
100 |a 20180314d2018 k||y0engy50 ba 
101 0 |a eng 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Natural Oxidation of Ultra-Thin Copper Films  |f V. A. Semenov [et al.] 
203 |a Text  |c electronic 
300 |a Title screen 
320 |a [References: 14 tit.] 
330 |a The paper examines the oxidation of polycrystalline Cu films under the impact of ambient atmosphere in the course of extended time (from 20 to 90 days). It shows that in the case of 10 nm thick Cu films deposited onto the glass substrate by method of magnetron sputtering, one eventually observes the increase in transparency, surface resistance and surface roughness, as well as the decrease in reflection in the area of near infrared region. The most dramatic changes occur in films deposited in the pulse mode of sputtering with frequency of 3 kHz compared to films deposited in the direct current mode. Formation of sublayer ZnO:Al and 20 nm thick upper passivating layer ZnO:Al allows effectively preventing the oxidation of thin copper films under the impact of ambient atmosphere. 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
461 |t Russian Physics Journal 
463 |t Vol. 60, iss. 9  |v [P. 1559-1564]  |d 2018 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a микроволновые печи 
610 1 |a copper 
610 1 |a thin films 
610 1 |a oxidation 
610 1 |a microstructure 
610 1 |a микроструктура 
610 1 |a окисление 
610 1 |a тонкие пленки 
610 1 |a медь 
701 1 |a Semenov  |b V. A.  |g Vyacheslav Arkadjevich 
701 1 |a Oskirko  |b V. O.  |g Vladimir Olegovich 
701 1 |a Rabotkin  |b S. V.  |g Sergey Viktorovich 
701 1 |a Oskomov  |b K. V.  |g Konstantin Vladimirovich 
701 1 |a Soloviev  |b A. A.  |c specialist in the field of hydrogen energy  |c Associate Professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of technical sciences  |f 1977-  |g Andrey Aleksandrovich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\30863 
701 1 |a Stepanov  |b S. A.  |c specialist in the field of lightning engineering  |c Engineer of Tomsk Polytechnic University  |f 1986-  |g Sergey Aleksandrovich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\33771  |9 17369 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |b Инженерная школа ядерных технологий  |b Научно-образовательный центр Б. П. Вейнберга  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\23561 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Инженерная школа новых производственных технологий (ИШНПТ)  |b Отделение материаловедения (ОМ)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\23508 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20180314  |g RCR 
856 4 0 |u https://doi.org/10.1007/s11182-018-1251-7 
942 |c CF