Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Русских А. Г. Александр Геннадиевич, Жигалин А. С. Александр Сергеевич, Артемов А. П. Антон Петрович, Федюнин А. В. Анатолий Васильевич, Орешкин В. И. Владимир Иванович, . . . Валько Н. Г. Наталья Георгиевна. (2017). Радиографические методы исследования короткоживущих плазменных структур. 2017.
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Русских А. Г. Александр Геннадиевич, Жигалин А. С. Александр Сергеевич, Артемов А. П. Антон Петрович, Федюнин А. В. Анатолий Васильевич, Орешкин В. И. Владимир Иванович, Чайковский С. А. Станислав Анатольевич, and Валько Н. Г. Наталья Георгиевна. Радиографические методы исследования короткоживущих плазменных структур. 2017, 2017.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, et al. Радиографические методы исследования короткоживущих плазменных структур. 2017, 2017.