Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Русских А. Г. Александр Геннадиевич, Жигалин А. С. Александр Сергеевич, Артемов А. П. Антон Петрович, Федюнин А. В. Анатолий Васильевич, Орешкин В. И. Владимир Иванович, . . . Валько Н. Г. Наталья Георгиевна. (2017). Радиографические методы исследования короткоживущих плазменных структур. 2017.
Cita Chicago (17th ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Русских А. Г. Александр Геннадиевич, Жигалин А. С. Александр Сергеевич, Артемов А. П. Антон Петрович, Федюнин А. В. Анатолий Васильевич, Орешкин В. И. Владимир Иванович, Чайковский С. А. Станислав Анатольевич, i Валько Н. Г. Наталья Георгиевна. Радиографические методы исследования короткоживущих плазменных структур. 2017, 2017.
Cita MLA (9th ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, et al. Радиографические методы исследования короткоживущих плазменных структур. 2017, 2017.