Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Русских А. Г. Александр Геннадиевич, Жигалин А. С. Александр Сергеевич, Артемов А. П. Антон Петрович, Федюнин А. В. Анатолий Васильевич, Орешкин В. И. Владимир Иванович, . . . Валько Н. Г. Наталья Георгиевна. (2017). Радиографические методы исследования короткоживущих плазменных структур; Перспективные материалы и технологии; Ч. 1. 2017.
Citazione stile Chigago Style (17a edizione)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Русских А. Г. Александр Геннадиевич, Жигалин А. С. Александр Сергеевич, Артемов А. П. Антон Петрович, Федюнин А. В. Анатолий Васильевич, Орешкин В. И. Владимир Иванович, Чайковский С. А. Станислав Анатольевич, e Валько Н. Г. Наталья Георгиевна. Радиографические методы исследования короткоживущих плазменных структур; Перспективные материалы и технологии; Ч. 1. 2017, 2017.
Citatione MLA (9a ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, et al. Радиографические методы исследования короткоживущих плазменных структур; Перспективные материалы и технологии; Ч. 1. 2017, 2017.