Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Русских А. Г. Александр Геннадиевич, Жигалин А. С. Александр Сергеевич, Артемов А. П. Антон Петрович, Федюнин А. В. Анатолий Васильевич, Орешкин В. И. Владимир Иванович, . . . Валько Н. Г. Наталья Георгиевна. (2017). Радиографические методы исследования короткоживущих плазменных структур; Перспективные материалы и технологии; Ч. 1. 2017.
Chicago Style (17. basım) AtıfНациональный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Русских А. Г. Александр Геннадиевич, Жигалин А. С. Александр Сергеевич, Артемов А. П. Антон Петрович, Федюнин А. В. Анатолий Васильевич, Орешкин В. И. Владимир Иванович, Чайковский С. А. Станислав Анатольевич, ve Валько Н. Г. Наталья Георгиевна. Радиографические методы исследования короткоживущих плазменных структур; Перспективные материалы и технологии; Ч. 1. 2017, 2017.
MLA (9th ed.) AtıfНациональный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, et al. Радиографические методы исследования короткоживущих плазменных структур; Перспективные материалы и технологии; Ч. 1. 2017, 2017.