Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Plotnikova I. V. Inna Vasilievna, Chicherina N. V. Natality Viktorovna, Bays S. S., Bildanov R. G., & Stary O. Oldrich. (2018). The selection criteria elements of X-ray optics system. 2018. https://doi.org/10.1088/1757-899X/289/1/012029
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Plotnikova I. V. Inna Vasilievna, Chicherina N. V. Natality Viktorovna, Bays S. S., Bildanov R. G., và Stary O. Oldrich. The Selection Criteria Elements of X-ray Optics System. 2018, 2018. https://doi.org/10.1088/1757-899X/289/1/012029.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, et al. The Selection Criteria Elements of X-ray Optics System. 2018, 2018. https://doi.org/10.1088/1757-899X/289/1/012029.