APA引文

Дудкин А. Н. Анатолий Николаевич, Леонов А. П. Андрей Петрович, & Супуева А. С. Аделя Сагынбековна. (2017). Оценка влияния уровня дефектности эмалированных проводов на надежность межвитковой изоляции; Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники; Т. 20, № 2. 2017. https://doi.org/10.21293/1818-0442-2017-20-2-123-126

Chicago Style (17th ed.) Citation

Дудкин А. Н. Анатолий Николаевич, Леонов А. П. Андрей Петрович, and Супуева А. С. Аделя Сагынбековна. Оценка влияния уровня дефектности эмалированных проводов на надежность межвитковой изоляции; Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники; Т. 20, № 2. 2017, 2017. https://doi.org/10.21293/1818-0442-2017-20-2-123-126.

MLA引文

Дудкин А. Н. Анатолий Николаевич, et al. Оценка влияния уровня дефектности эмалированных проводов на надежность межвитковой изоляции; Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники; Т. 20, № 2. 2017, 2017. https://doi.org/10.21293/1818-0442-2017-20-2-123-126.