Дудкин А. Н. Анатолий Николаевич, Леонов А. П. Андрей Петрович, & Супуева А. С. Аделя Сагынбековна. (2017). Оценка влияния уровня дефектности эмалированных проводов на надежность межвитковой изоляции; Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники; Т. 20, № 2. 2017. https://doi.org/10.21293/1818-0442-2017-20-2-123-126
Chicago (17e ed.) BronvermeldingДудкин А. Н. Анатолий Николаевич, Леонов А. П. Андрей Петрович, en Супуева А. С. Аделя Сагынбековна. Оценка влияния уровня дефектности эмалированных проводов на надежность межвитковой изоляции; Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники; Т. 20, № 2. 2017, 2017. https://doi.org/10.21293/1818-0442-2017-20-2-123-126.
MLA (9e ed.) BronvermeldingДудкин А. Н. Анатолий Николаевич, et al. Оценка влияния уровня дефектности эмалированных проводов на надежность межвитковой изоляции; Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники; Т. 20, № 2. 2017, 2017. https://doi.org/10.21293/1818-0442-2017-20-2-123-126.