Влияние температурного градиента на спектр дифрагированного рентгеновского излучения в кристалле кварца
| Parent link: | Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования.— , 1995- № 11.— 2017.— [С. 3-6] |
|---|---|
| Enti autori: | , |
| Altri autori: | , , , , , , |
| Riassunto: | Заглавие с экрана Экспериментальноисследованы спектры дифрагированного рентгеновского излучения в монокристалле кварца (1011) в геометрии Лауэ под воздействием температурного градиента при использовании спектрометра БДЕР-КИ-11К. Наличие температурного градиента приводит к увеличению интенсивности дифрагированного пучка в зависимости от температуры нагрева. Показано, что интенсивность отраженного излучения в Лауэ-геометрии может возрастать на два порядка по сравнению с однородным температурным режимом кристалла. Получена кривая качания отраженного пучка под фиксированным углом наблюдения 6°, при заданном температурном градиенте. Показано, что с увеличением температурного градиента (до определенного значения) интенсивность отраженного пучка увеличивается, при этом спектральная ширина отраженной линии остается неизменной и определяется энергетическим разрешением спектрометра. Дальнейшее увеличение температурного градиента приводит к увеличению спектральной ширины отраженной линии при уменьшении интенсивности отраженного пучка. Spectra of diffracted X-Ray radiation in quartz monocrystal in Laue geometry under the influence of the temperature gradient were investigated by spectrometer BDER-KI-11K with resolution 300 eV on the line of Am241 17.74 keV. The temperature gradient leads to increasing of diffracted beam intensity which was measured for different temperature levels. It was shown that the intensity of diffracted radiation in Laue geometry can increase by two orders for the gradient 250 °С/ш1 compared to homogeneous temperature mode of crystal. The rocking curve of diffracted beam for fixed observation angle was measured too. It was shown that growth of the temperature gradient to moderate level causes increasing of diffracted beam intensity but spectral width of line stays constant and depends only on detector resolution. Further temperature gradient increasing leads to spectral width increasing with decreasing intensity of reflected beam. Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса |
| Lingua: | russo |
| Pubblicazione: |
2017
|
| Soggetti: | |
| Accesso online: | https://elibrary.ru/item.asp?id=30502875 |
| Natura: | Elettronico Capitolo di libro |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=657288 |
MARC
| LEADER | 00000naa0a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 657288 | ||
| 005 | 20250121094633.0 | ||
| 035 | |a (RuTPU)RU\TPU\network\23790 | ||
| 035 | |a RU\TPU\network\22313 | ||
| 090 | |a 657288 | ||
| 100 | |a 20180123d2017 k||y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 135 | |a drcn ---uucaa | ||
| 181 | 0 | |a i | |
| 182 | 0 | |a b | |
| 200 | 1 | |a Влияние температурного градиента на спектр дифрагированного рентгеновского излучения в кристалле кварца |d Influence of the Temperature Gradient on Diffraction Spectrum of X-Ray Radiation in Quartz Crystal |f А. Р. Мкртчян [и др.] | |
| 203 | |a Текст |c электронный | ||
| 300 | |a Заглавие с экрана | ||
| 320 | |a [Библиогр.: с. 6 (10 назв.)] | ||
| 330 | |a Экспериментальноисследованы спектры дифрагированного рентгеновского излучения в монокристалле кварца (1011) в геометрии Лауэ под воздействием температурного градиента при использовании спектрометра БДЕР-КИ-11К. Наличие температурного градиента приводит к увеличению интенсивности дифрагированного пучка в зависимости от температуры нагрева. Показано, что интенсивность отраженного излучения в Лауэ-геометрии может возрастать на два порядка по сравнению с однородным температурным режимом кристалла. Получена кривая качания отраженного пучка под фиксированным углом наблюдения 6°, при заданном температурном градиенте. Показано, что с увеличением температурного градиента (до определенного значения) интенсивность отраженного пучка увеличивается, при этом спектральная ширина отраженной линии остается неизменной и определяется энергетическим разрешением спектрометра. Дальнейшее увеличение температурного градиента приводит к увеличению спектральной ширины отраженной линии при уменьшении интенсивности отраженного пучка. | ||
| 330 | |a Spectra of diffracted X-Ray radiation in quartz monocrystal in Laue geometry under the influence of the temperature gradient were investigated by spectrometer BDER-KI-11K with resolution 300 eV on the line of Am241 17.74 keV. The temperature gradient leads to increasing of diffracted beam intensity which was measured for different temperature levels. It was shown that the intensity of diffracted radiation in Laue geometry can increase by two orders for the gradient 250 °С/ш1 compared to homogeneous temperature mode of crystal. The rocking curve of diffracted beam for fixed observation angle was measured too. It was shown that growth of the temperature gradient to moderate level causes increasing of diffracted beam intensity but spectral width of line stays constant and depends only on detector resolution. Further temperature gradient increasing leads to spectral width increasing with decreasing intensity of reflected beam. | ||
| 333 | |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса | ||
| 461 | |t Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования |d 1995- | ||
| 463 | |t № 11 |v [С. 3-6] |d 2017 | ||
| 510 | 1 | |a Influence of the Temperature Gradient on Diffraction Spectrum of X-Ray Radiation in Quartz Crystal |z eng | |
| 610 | 1 | |a труды учёных ТПУ | |
| 610 | 1 | |a электронный ресурс | |
| 610 | 1 | |a рентгеновское излучение | |
| 610 | 1 | |a кристалл | |
| 610 | 1 | |a кварц | |
| 610 | 1 | |a температурные градиенты | |
| 610 | 1 | |a X-Ray | |
| 610 | 1 | |a crystals | |
| 610 | 1 | |a quartz | |
| 610 | 1 | |a temperatures | |
| 701 | 1 | |a Мкртчян |b А. Р. |c физик |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук |f 1937- |g Альпик Рафаелович |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\32505 | |
| 701 | 1 | |a Потылицын |b А. П. |c российский физик |c профессор Томского политехнического университета |f 1945- |g Александр Петрович |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\15853 |9 5531 | |
| 701 | 1 | |a Вуколов |b А. В. |c физик |c научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук |f 1978- |g Артем Владимирович |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\27815 |9 12853 | |
| 701 | 1 | |a Новокшонов |b А. И. |c специалист в области неразрушающего контроля |c инженер Томского политехнического университета |f 1990- |g Артем Игоревич |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\32960 | |
| 701 | 1 | |a Гоголев |b А. С. |c физик |c доцент Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук |f 1983- |g Алексей Сергеевич |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\26565 |9 12254 | |
| 701 | 1 | |a Амирагян |b Р. В. | |
| 701 | 1 | |a Мовсисян |b А. Е. |g Артур Егишеевич | |
| 712 | 0 | 2 | |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) |b Физико-технический институт (ФТИ) |b Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ) |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18729 |
| 712 | 0 | 2 | |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) |b Физико-технический институт (ФТИ) |b Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ) |b Инновационная международная научно-образовательная лаборатория "Фотон" (ИМНОЛ "Фотон") |3 (RuTPU)RU\TPU\col\20731 |
| 801 | 2 | |a RU |b 63413507 |c 20180123 |g RCR | |
| 856 | 4 | 0 | |u https://elibrary.ru/item.asp?id=30502875 |
| 942 | |c CF | ||