APA (7th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра высоковольтной электрофизики и сильноточной электроники (ВЭСЭ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра физики высоких технологий в машиностроении (ФВТМ), Pervikov A. V. Alexander Vasilyevich, Rodkevich N. Nikolay, Glazkova E. Elena, & Lerner M. I. Marat Izrailyevich. (2017). Hierarchical Structures of Metal Micro- and Nanoparticles for PIM; AIP Conference Proceedings; Vol. 1909: Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2017 (AMHS’17). 2017. https://doi.org/10.1063/1.5013852

Chicago Style (17th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра высоковольтной электрофизики и сильноточной электроники (ВЭСЭ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра физики высоких технологий в машиностроении (ФВТМ), Pervikov A. V. Alexander Vasilyevich, Rodkevich N. Nikolay, Glazkova E. Elena, and Lerner M. I. Marat Izrailyevich. Hierarchical Structures of Metal Micro- and Nanoparticles for PIM; AIP Conference Proceedings; Vol. 1909: Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2017 (AMHS’17). 2017, 2017. https://doi.org/10.1063/1.5013852.

MLA (9th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра высоковольтной электрофизики и сильноточной электроники (ВЭСЭ), et al. Hierarchical Structures of Metal Micro- and Nanoparticles for PIM; AIP Conference Proceedings; Vol. 1909: Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2017 (AMHS’17). 2017, 2017. https://doi.org/10.1063/1.5013852.

Warning: These citations may not always be 100% accurate.