APA引文

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК), Gnedin M, Usachev E, Valikov V, Gheveler V, & Stein A. M. Aleksandr Mikhailovich. (2017). New method of measuring µ-focus spots of X-ray tubes; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 881 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2017). 2017. https://doi.org/10.1088/1742-6596/881/1/012031

Chicago Style (17th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК), Gnedin M, Usachev E, Valikov V, Gheveler V, and Stein A. M. Aleksandr Mikhailovich. New Method of Measuring µ-focus Spots of X-ray Tubes; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 881 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2017). 2017, 2017. https://doi.org/10.1088/1742-6596/881/1/012031.

MLA引文

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК), et al. New Method of Measuring µ-focus Spots of X-ray Tubes; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 881 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2017). 2017, 2017. https://doi.org/10.1088/1742-6596/881/1/012031.