Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра высоковольтной электрофизики и сильноточной электроники (ВЭСЭ), Dzhigaev D. Dmitry, Shabalin A. Anatoly, Stankevic T. Tomas, Lorenz U. Ulf, Kurta R. P. Ruslan, . . . Schroer Ch. G. Christian. (2016). Bragg coherent x-ray diffractive imaging of a single indium phosphide nanowire; Journal of Optics; Vol. 18, iss. 6. 2016. https://doi.org/10.1088/2040-8978/18/6/064007
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра высоковольтной электрофизики и сильноточной электроники (ВЭСЭ), et al. Bragg Coherent X-ray Diffractive Imaging of a Single Indium Phosphide Nanowire; Journal of Optics; Vol. 18, Iss. 6. 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/2040-8978/18/6/064007.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра высоковольтной электрофизики и сильноточной электроники (ВЭСЭ), et al. Bragg Coherent X-ray Diffractive Imaging of a Single Indium Phosphide Nanowire; Journal of Optics; Vol. 18, Iss. 6. 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/2040-8978/18/6/064007.