Power switching transistors based on gallium nitride epitaxial heterostructures; Russian Microelectronics; Vol. 46, iss. 3

Dades bibliogràfiques
Parent link:Russian Microelectronics
Vol. 46, iss. 3.— 2017.— [P. 205–210]
Autor principal: Erofeev E. V. Evgeny Viktorovich
Autor corporatiu: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра экспериментальной физики (ЭФ)
Altres autors: Fedin I. V. Ivan Vladimirovich, Yuriev Yu. N. Yuri Nikolaevich
Sumari:Title screen
The results of the development of power switching transistors based on epitaxial gallium nitride heterostructures to create an energy-efficient conversion technique are presented. The developed powerful GaN transistor operates in enrichment mode with unlocking threshold voltage Vth = +1.2 V and a maximum drain-source current Ids = 0.15 A/mm at the drain-source voltage Vds = +8 V. The drain-source breakdown voltage in the closed state is Vb = 300 V at the drain-source distance Lds = 8.5 μm and drain-source voltage Vds = 0 V.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Idioma:anglès
Publicat: 2017
Matèries:
Accés en línia:http://dx.doi.org/10.1134/S1063739717020020
Format: Electrònic Capítol de llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=655863

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 655863
005 20250904150801.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\22193 
035 |a RU\TPU\network\18828 
090 |a 655863 
100 |a 20171010d2017 k||y0rusy50 ba 
101 0 |a eng 
102 |a RU 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Power switching transistors based on gallium nitride epitaxial heterostructures  |f E. V. Erofeev, I. V. Fedin, Yu. N. Yuriev 
203 |a Text  |c electronic 
300 |a Title screen 
320 |a [References: p. 210 (8 tit.)] 
330 |a The results of the development of power switching transistors based on epitaxial gallium nitride heterostructures to create an energy-efficient conversion technique are presented. The developed powerful GaN transistor operates in enrichment mode with unlocking threshold voltage Vth = +1.2 V and a maximum drain-source current Ids = 0.15 A/mm at the drain-source voltage Vds = +8 V. The drain-source breakdown voltage in the closed state is Vb = 300 V at the drain-source distance Lds = 8.5 μm and drain-source voltage Vds = 0 V. 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
461 |t Russian Microelectronics 
463 |t Vol. 46, iss. 3  |v [P. 205–210]  |d 2017 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a нитрид галлия 
610 1 |a гетероструктуры 
610 1 |a силовые транзисторы 
700 1 |a Erofeev  |b E. V.  |g Evgeny Viktorovich 
701 1 |a Fedin  |b I. V.  |g Ivan Vladimirovich 
701 1 |a Yuriev  |b Yu. N.  |c specialist in the field of hydrogen energy  |c Head of the laboratory of Tomsk Polytechnic University, Associate Scientist  |f 1984-  |g Yuri Nikolaevich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\31508  |9 15669 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Физико-технический институт (ФТИ)  |b Кафедра экспериментальной физики (ЭФ)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\21255 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20141010 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20171010  |g RCR 
856 4 |u http://dx.doi.org/10.1134/S1063739717020020 
942 |c CF