Коэффициенты диффузии алюминия в диоксиде циркония, определенные методом вторично-ионной масс-спектрометрии; Известия вузов. Физика; Т. 60, № 5

Podrobná bibliografie
Parent link:Известия вузов. Физика: научный журнал
Т. 60, № 5.— 2017.— [С. 61-64]
Hlavní autor: Гынгазов С. А. Сергей Анатольевич
Korporativní autor: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП)
Další autoři: Чернявский А. В. Александр Викторович, Петрова А. Б. Анна Борисовна
Shrnutí:Заглавие с экрана
Методом вторично-ионной масс-спектрометрии с использованием установки PHI 6300 исследована диффузия ионов алюминия в циркониевой керамике, полученной из плазмохимических порошков состава 97ZrO2- 3Y2O3 (мол. %). Предварительно тонкая пленка алюминия, нанесенная на поверхность керамики, подвергалась промежуточному отжигу при температуре 873 К до полного ее окисления. Диффузионные отжиги проводились в диапазоне температур 1520-1820 °С. Установлено, что типичный экспериментальный профиль глубинного распределения примеси содержит два характерных линейных участка с разными углами наклона, которые свидетельствуют о том, что диффузионный перенос ионов алюминия идет одновременно по объему зерен и по межзеренным границам. Объемные коэффициенты диффузии определены путем аппроксимации диффузионных профилей решением уравнения Фика для диффузии из тонкопленочного источника в полубесконечный кристалл. Определенные значения коэффициентов диффузии удовлетворительно совпали с литературными данными.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Jazyk:ruština
Vydáno: 2017
Témata:
On-line přístup:https://elibrary.ru/item.asp?id=29296703
Médium: Elektronický zdroj Kapitola
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=655705

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 655705
005 20250331100700.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\21966 
090 |a 655705 
100 |a 20170922d2017 k||y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Коэффициенты диффузии алюминия в диоксиде циркония, определенные методом вторично-ионной масс-спектрометрии  |f С. А. Гынгазов, А. В. Чернявский, А. Б. Петрова 
203 |a Текст  |c электронный 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a [Библиогр.: 17 назв.] 
330 |a Методом вторично-ионной масс-спектрометрии с использованием установки PHI 6300 исследована диффузия ионов алюминия в циркониевой керамике, полученной из плазмохимических порошков состава 97ZrO2- 3Y2O3 (мол. %). Предварительно тонкая пленка алюминия, нанесенная на поверхность керамики, подвергалась промежуточному отжигу при температуре 873 К до полного ее окисления. Диффузионные отжиги проводились в диапазоне температур 1520-1820 °С. Установлено, что типичный экспериментальный профиль глубинного распределения примеси содержит два характерных линейных участка с разными углами наклона, которые свидетельствуют о том, что диффузионный перенос ионов алюминия идет одновременно по объему зерен и по межзеренным границам. Объемные коэффициенты диффузии определены путем аппроксимации диффузионных профилей решением уравнения Фика для диффузии из тонкопленочного источника в полубесконечный кристалл. Определенные значения коэффициентов диффузии удовлетворительно совпали с литературными данными. 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
461 |t Известия вузов. Физика  |o научный журнал 
463 |t Т. 60, № 5  |v [С. 61-64]  |d 2017 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a диоксид циркония 
610 1 |a термическая диффузия 
610 1 |a вторично-ионная масс-спектроскопия 
610 1 |a примеси 
610 1 |a распределение 
610 1 |a объемная диффузия 
610 1 |a коэффициент диффузии 
700 1 |a Гынгазов  |b С. А.  |c специалист в области электроники  |c профессор Томского политехнического университета, доктор технических наук  |f 1958-  |g Сергей Анатольевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\26531  |9 12225 
701 1 |a Чернявский  |b А. В.  |c специалист в области электроники  |c старший научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук  |f 1966-  |g Александр Викторович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\26556 
701 1 |a Петрова  |b А. Б.  |c специалист в области неразрушающего контроля  |c младший научный сотрудник Томского политехнического университета  |f 1992-  |g Анна Борисовна  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\36004 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Институт неразрушающего контроля (ИНК)  |b Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\19033 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20170922  |g RCR 
856 4 |u https://elibrary.ru/item.asp?id=29296703 
942 |c CF