Коэффициенты диффузии алюминия в диоксиде циркония, определенные методом вторично-ионной масс-спектрометрии; Известия вузов. Физика; Т. 60, № 5
| Parent link: | Известия вузов. Физика: научный журнал Т. 60, № 5.— 2017.— [С. 61-64] |
|---|---|
| Main Author: | |
| Corporate Author: | |
| Other Authors: | , |
| Summary: | Заглавие с экрана Методом вторично-ионной масс-спектрометрии с использованием установки PHI 6300 исследована диффузия ионов алюминия в циркониевой керамике, полученной из плазмохимических порошков состава 97ZrO2- 3Y2O3 (мол. %). Предварительно тонкая пленка алюминия, нанесенная на поверхность керамики, подвергалась промежуточному отжигу при температуре 873 К до полного ее окисления. Диффузионные отжиги проводились в диапазоне температур 1520-1820 °С. Установлено, что типичный экспериментальный профиль глубинного распределения примеси содержит два характерных линейных участка с разными углами наклона, которые свидетельствуют о том, что диффузионный перенос ионов алюминия идет одновременно по объему зерен и по межзеренным границам. Объемные коэффициенты диффузии определены путем аппроксимации диффузионных профилей решением уравнения Фика для диффузии из тонкопленочного источника в полубесконечный кристалл. Определенные значения коэффициентов диффузии удовлетворительно совпали с литературными данными. Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса |
| Language: | Russian |
| Published: |
2017
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://elibrary.ru/item.asp?id=29296703 |
| Format: | Electronic Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=655705 |
MARC
| LEADER | 00000naa0a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 655705 | ||
| 005 | 20250331100700.0 | ||
| 035 | |a (RuTPU)RU\TPU\network\21966 | ||
| 090 | |a 655705 | ||
| 100 | |a 20170922d2017 k||y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 135 | |a drcn ---uucaa | ||
| 181 | 0 | |a i | |
| 182 | 0 | |a b | |
| 200 | 1 | |a Коэффициенты диффузии алюминия в диоксиде циркония, определенные методом вторично-ионной масс-спектрометрии |f С. А. Гынгазов, А. В. Чернявский, А. Б. Петрова | |
| 203 | |a Текст |c электронный | ||
| 300 | |a Заглавие с экрана | ||
| 320 | |a [Библиогр.: 17 назв.] | ||
| 330 | |a Методом вторично-ионной масс-спектрометрии с использованием установки PHI 6300 исследована диффузия ионов алюминия в циркониевой керамике, полученной из плазмохимических порошков состава 97ZrO2- 3Y2O3 (мол. %). Предварительно тонкая пленка алюминия, нанесенная на поверхность керамики, подвергалась промежуточному отжигу при температуре 873 К до полного ее окисления. Диффузионные отжиги проводились в диапазоне температур 1520-1820 °С. Установлено, что типичный экспериментальный профиль глубинного распределения примеси содержит два характерных линейных участка с разными углами наклона, которые свидетельствуют о том, что диффузионный перенос ионов алюминия идет одновременно по объему зерен и по межзеренным границам. Объемные коэффициенты диффузии определены путем аппроксимации диффузионных профилей решением уравнения Фика для диффузии из тонкопленочного источника в полубесконечный кристалл. Определенные значения коэффициентов диффузии удовлетворительно совпали с литературными данными. | ||
| 333 | |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса | ||
| 461 | |t Известия вузов. Физика |o научный журнал | ||
| 463 | |t Т. 60, № 5 |v [С. 61-64] |d 2017 | ||
| 610 | 1 | |a электронный ресурс | |
| 610 | 1 | |a труды учёных ТПУ | |
| 610 | 1 | |a диоксид циркония | |
| 610 | 1 | |a термическая диффузия | |
| 610 | 1 | |a вторично-ионная масс-спектроскопия | |
| 610 | 1 | |a примеси | |
| 610 | 1 | |a распределение | |
| 610 | 1 | |a объемная диффузия | |
| 610 | 1 | |a коэффициент диффузии | |
| 700 | 1 | |a Гынгазов |b С. А. |c специалист в области электроники |c профессор Томского политехнического университета, доктор технических наук |f 1958- |g Сергей Анатольевич |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\26531 |9 12225 | |
| 701 | 1 | |a Чернявский |b А. В. |c специалист в области электроники |c старший научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук |f 1966- |g Александр Викторович |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\26556 | |
| 701 | 1 | |a Петрова |b А. Б. |c специалист в области неразрушающего контроля |c младший научный сотрудник Томского политехнического университета |f 1992- |g Анна Борисовна |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\36004 | |
| 712 | 0 | 2 | |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) |b Институт неразрушающего контроля (ИНК) |b Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП) |3 (RuTPU)RU\TPU\col\19033 |
| 801 | 2 | |a RU |b 63413507 |c 20170922 |g RCR | |
| 856 | 4 | |u https://elibrary.ru/item.asp?id=29296703 | |
| 942 | |c CF | ||