Цитирование APA (7-е изд.)

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра экспериментальной физики (ЭФ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Лаборатория № 22, Stepanov I. B. Igor Borisovich, Ryabchikov A. I. Aleksandr Ilyich, Ananin P. S. Petr Semenovich, Sivin D. O. Denis Olegovich, . . . Zhelomsky S. G. Sergey Gennadjevich. (2016). Tangential cathode magnetic field and substrate bias influence on copper vacuum arc macroparticle content decreasing; Surface and Coatings Technology; Vol. 306, Pt. A: Surface Modification of Materials by Ion Beams (SMMIB 2015). 2016. https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2016.04.003

Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра экспериментальной физики (ЭФ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Лаборатория № 22, Stepanov I. B. Igor Borisovich, Ryabchikov A. I. Aleksandr Ilyich, Ananin P. S. Petr Semenovich, Sivin D. O. Denis Olegovich, Shevelev A. E. Aleksey Eduardovich, и Zhelomsky S. G. Sergey Gennadjevich. Tangential Cathode Magnetic Field and Substrate Bias Influence on Copper Vacuum Arc Macroparticle Content Decreasing; Surface and Coatings Technology; Vol. 306, Pt. A: Surface Modification of Materials by Ion Beams (SMMIB 2015). 2016, 2016. https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2016.04.003.

Цитирование MLA (9-е изд.)

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра экспериментальной физики (ЭФ), et al. Tangential Cathode Magnetic Field and Substrate Bias Influence on Copper Vacuum Arc Macroparticle Content Decreasing; Surface and Coatings Technology; Vol. 306, Pt. A: Surface Modification of Materials by Ion Beams (SMMIB 2015). 2016, 2016. https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2016.04.003.

Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.