Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Юргинский технологический институт (филиал) (ЮТИ) Кафедра безопасности жизнедеятельности, экологии и физического воспитания (БЖДЭФВ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Юргинский технологический институт (филиал) (ЮТИ) Кафедра гуманитарного образования и иностранных языков (ГОИЯ), Malchik A. G. Aleksandra Gennadievna, Litovkin S. V. Sergey Valerievich, Filonov A. V. Alexandr Vladimirovich, Uljyanova O. V. Olga Viktorovna, & Gromov V. E. (2017). Acid-Base Properties Of Glass Substrate And SiO[2]-Bi[2]O[3]Thin-Film Systems Obtained On It; IOP Conference Series: Earth and Environmental Science; Vol. 50 : Ecology and safety in the technosphere: current problems and solutions. 2017. https://doi.org/10.1088/1755-1315/50/1/012048
Chicago Style aipamenaНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Юргинский технологический институт (филиал) (ЮТИ) Кафедра безопасности жизнедеятельности, экологии и физического воспитания (БЖДЭФВ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Юргинский технологический институт (филиал) (ЮТИ) Кафедра гуманитарного образования и иностранных языков (ГОИЯ), Malchik A. G. Aleksandra Gennadievna, Litovkin S. V. Sergey Valerievich, Filonov A. V. Alexandr Vladimirovich, Uljyanova O. V. Olga Viktorovna, and Gromov V. E. Acid-Base Properties Of Glass Substrate And SiO[2]-Bi[2]O[3]Thin-Film Systems Obtained On It; IOP Conference Series: Earth and Environmental Science; Vol. 50 : Ecology and Safety in the Technosphere: Current Problems and Solutions. 2017, 2017. https://doi.org/10.1088/1755-1315/50/1/012048.
MLA aipamenaНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Юргинский технологический институт (филиал) (ЮТИ) Кафедра безопасности жизнедеятельности, экологии и физического воспитания (БЖДЭФВ), et al. Acid-Base Properties Of Glass Substrate And SiO[2]-Bi[2]O[3]Thin-Film Systems Obtained On It; IOP Conference Series: Earth and Environmental Science; Vol. 50 : Ecology and Safety in the Technosphere: Current Problems and Solutions. 2017, 2017. https://doi.org/10.1088/1755-1315/50/1/012048.