Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт, Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Международная научно-образовательная лаборатория неразрушающего контроля (МНОЛ НК), Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Vukolov A. V. Artem Vladimirovich, Cherepennikov Yu. M. Yuriy Mihaylovich, Rezaev R. O. Roman Olegovich, . . . Gogoleva T. S. Tatiana Sergeevna. (2014). Background X-Ray Scattering in Wavelength Dispersive Absorptiometry; Charged and Neutral Particles Channeling Phenomena. Channeling 2014. 2014.
Cita Chicago Style (17a ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт, Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Международная научно-образовательная лаборатория неразрушающего контроля (МНОЛ НК), Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Vukolov A. V. Artem Vladimirovich, Cherepennikov Yu. M. Yuriy Mihaylovich, Rezaev R. O. Roman Olegovich, Ogrebo A. V. Andrey Vladimirovich, y Gogoleva T. S. Tatiana Sergeevna. Background X-Ray Scattering in Wavelength Dispersive Absorptiometry; Charged and Neutral Particles Channeling Phenomena. Channeling 2014. 2014, 2014.
Cita MLA (9a ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт, et al. Background X-Ray Scattering in Wavelength Dispersive Absorptiometry; Charged and Neutral Particles Channeling Phenomena. Channeling 2014. 2014, 2014.