APA (7th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Международная научно-образовательная лаборатория неразрушающего контроля (МНОЛ НК), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра высшей математики и математической физики (ВММФ), Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Vukolov A. V. Artem Vladimirovich, Cherepennikov Yu. M. Yuriy Mihaylovich, . . . Gogoleva T. S. Tatiana Sergeevna. (2014). Background X-Ray Scattering in Wavelength Dispersive Absorptiometry. 2014.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Международная научно-образовательная лаборатория неразрушающего контроля (МНОЛ НК), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра высшей математики и математической физики (ВММФ), Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Vukolov A. V. Artem Vladimirovich, Cherepennikov Yu. M. Yuriy Mihaylovich, Rezaev R. O. Roman Olegovich, Ogrebo A. V. Andrey Vladimirovich, and Gogoleva T. S. Tatiana Sergeevna. Background X-Ray Scattering in Wavelength Dispersive Absorptiometry. 2014, 2014.

MLA (9th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), et al. Background X-Ray Scattering in Wavelength Dispersive Absorptiometry. 2014, 2014.