Analyzing the thermal regime of power supply units in portable betatrons by using infrared thermography; MATEC Web of Conferences; Vol. 92 : Thermophysical Basis of Energy Technologies (TBET-2016)

Detaylı Bibliyografya
Parent link:MATEC Web of Conferences
Vol. 92 : Thermophysical Basis of Energy Technologies (TBET-2016).— 2017.— [01017, 4 p.]
Kurumsal yazarlar: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Лаборатория № 51 (Радиационных испытаний материалов и изделий), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Лаборатория № 41 (Разработка бетатронов)
Diğer Yazarlar: Simonova O. S. Olga Sergeevna, Kasyanov (Kas'yanov) V. A. Valery Alekseevich, Moskovchenko A. I., Xingwang G.
Özet:Title screen
Potentials of infrared thermography in analyzing a thermal regime of the 7.5 MeV betatron power supply are discussed. Both the heating rate and thermal inertia of particular electronic components have been evaluated by processing pixel-based temperature histories. The data treatment has been performed by using the original ThermoFit Pro software to illustrate that some advanced processing algorithms, such as the Fourier transform and principle component analysis, are valuable in identifying thermal dynamics of particular power supply parts.
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: 2017
Konular:
Online Erişim:http://dx.doi.org/10.1051/matecconf/20179201017
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/36724
Materyal Türü: Elektronik Kitap Bölümü
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=652957

MARC

LEADER 00000nla2a2200000 4500
001 652957
005 20240214120532.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\18328 
035 |a RU\TPU\network\18324 
090 |a 652957 
100 |a 20170201a2017 k y0engy50 ba 
101 0 |a eng 
105 |a y z 100zy 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Analyzing the thermal regime of power supply units in portable betatrons by using infrared thermography  |f O. S. Simonova [et al.] 
203 |a Text  |c electronic 
300 |a Title screen 
320 |a [References: 11 tit.] 
330 |a Potentials of infrared thermography in analyzing a thermal regime of the 7.5 MeV betatron power supply are discussed. Both the heating rate and thermal inertia of particular electronic components have been evaluated by processing pixel-based temperature histories. The data treatment has been performed by using the original ThermoFit Pro software to illustrate that some advanced processing algorithms, such as the Fourier transform and principle component analysis, are valuable in identifying thermal dynamics of particular power supply parts. 
461 0 |0 (RuTPU)RU\TPU\network\4526  |t MATEC Web of Conferences 
463 0 |0 (RuTPU)RU\TPU\network\18128  |t Vol. 92 : Thermophysical Basis of Energy Technologies (TBET-2016)  |o Proceedings of the Conference, October 26-28, 2016, Tomsk, Russia  |f National Research Tomsk Polytechnic University (TPU) ; eds. G. V. Kuznetsov ; P. A. Strizhak ; A. O. Zhdanova  |v [01017, 4 p.]  |d 2017 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a тепловые режимы 
610 1 |a блоки питания 
610 1 |a бетатроны 
610 1 |a инфракрасная термография 
610 1 |a программное обеспечение 
701 1 |a Simonova  |b O. S.  |c Specialist in the field of thermal engineering  |c Assistant of the Department of Tomsk Polytechnic University  |f 1986-  |g Olga Sergeevna  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\37861  |9 20552 
701 1 |a Kasyanov (Kas'yanov)  |b V. A.  |c specialist in the field of non-destructive testing  |c Head of laboratory of Tomsk Polytechnic University, Candidate of technical sciences  |f 1950-  |g Valery Alekseevich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\36472  |9 16250 
701 1 |a Moskovchenko  |b A. I. 
701 1 |a Xingwang  |b G. 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Институт неразрушающего контроля (ИНК)  |b Лаборатория № 51 (Радиационных испытаний материалов и изделий)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\19294 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Институт неразрушающего контроля (ИНК)  |b Лаборатория № 41 (Разработка бетатронов)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\21335 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20170213  |g RCR 
856 4 |u http://dx.doi.org/10.1051/matecconf/20179201017 
856 4 |u http://earchive.tpu.ru/handle/11683/36724 
942 |c CF