Поглощение света свободными носителями заряда в кристаллическом CdS при интенсивном электронном облучении; Известия вузов. Физика; Т. 59, № 5

Dades bibliogràfiques
Parent link:	Известия вузов. Физика: научный журнал/ Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ).— , 1957- Т. 59, № 5.— 2016.— [С. 123-127]
Autor principal:	Куликов В. Д. Виктор Дмитриевич
Autor corporatiu:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ)
Altres autors:	Яковлев В. Ю. Виктор Юрьевич
Sumari:	Заглавие с экрана Исследован процесс поглощения света свободными электронами в кристаллическом сульфиде кадмия при облучении наносекундным электронным пучком с плотностью тока 8-100 А/см2. Наблюдается сверхлинейное увеличение оптического поглощения при переходе от плотности тока пучка ~ 8 к 12 А/см2. Характер поглощения света термализованными электронами соответствует рассеянию на дефектах решетки. Увеличение показателя степенной функции поглощения света от длины волны с ростом плотности тока пучка связывается с одно- и двукратной ионизацией доноров и акцепторов. Сделан вывод, что накопление носителей заряда происходит без захвата на ловушки за счет их ударной ионизации вторичными электронами, энергия которых на стадии термализации сравнима с шириной запрещенной зоны кристалла. Рассчитаны сечение захвата электронов дырками при квадратичной рекомбинации ~ 10-20 см2, коэффициент ожерекомбинации ~ 10-31 см6×с-1, концентрация носителей составляет соответственно ~ 1.3×1018-1.5×1019 см-3. Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Idioma:	rus
Publicat:	2016
Matèries:	электронный ресурс труды учёных ТПУ полупроводники поглощение свет носители заряда электронные пучки дефекты кристаллы
Accés en línia:	http://elibrary.ru/item.asp?id=26131317
Format:	Electrònic Capítol de llibre
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=652703