Поглощение света свободными носителями заряда в кристаллическом CdS при интенсивном электронном облучении
| Parent link: | Известия вузов. Физика: научный журнал/ Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ).— , 1957- Т. 59, № 5.— 2016.— [С. 123-127] |
|---|---|
| Glavni autor: | |
| Autor kompanije: | |
| Daljnji autori: | |
| Sažetak: | Заглавие с экрана Исследован процесс поглощения света свободными электронами в кристаллическом сульфиде кадмия при облучении наносекундным электронным пучком с плотностью тока 8-100 А/см2. Наблюдается сверхлинейное увеличение оптического поглощения при переходе от плотности тока пучка ~ 8 к 12 А/см2. Характер поглощения света термализованными электронами соответствует рассеянию на дефектах решетки. Увеличение показателя степенной функции поглощения света от длины волны с ростом плотности тока пучка связывается с одно- и двукратной ионизацией доноров и акцепторов. Сделан вывод, что накопление носителей заряда происходит без захвата на ловушки за счет их ударной ионизации вторичными электронами, энергия которых на стадии термализации сравнима с шириной запрещенной зоны кристалла. Рассчитаны сечение захвата электронов дырками при квадратичной рекомбинации ~ 10-20 см2, коэффициент ожерекомбинации ~ 10-31 см6×с-1, концентрация носителей составляет соответственно ~ 1.3×1018-1.5×1019 см-3. Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса |
| Izdano: |
2016
|
| Teme: | |
| Online pristup: | http://elibrary.ru/item.asp?id=26131317 |
| Format: | Elektronički Poglavlje knjige |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=652703 |
| Sažetak: | Заглавие с экрана Исследован процесс поглощения света свободными электронами в кристаллическом сульфиде кадмия при облучении наносекундным электронным пучком с плотностью тока 8-100 А/см2. Наблюдается сверхлинейное увеличение оптического поглощения при переходе от плотности тока пучка ~ 8 к 12 А/см2. Характер поглощения света термализованными электронами соответствует рассеянию на дефектах решетки. Увеличение показателя степенной функции поглощения света от длины волны с ростом плотности тока пучка связывается с одно- и двукратной ионизацией доноров и акцепторов. Сделан вывод, что накопление носителей заряда происходит без захвата на ловушки за счет их ударной ионизации вторичными электронами, энергия которых на стадии термализации сравнима с шириной запрещенной зоны кристалла. Рассчитаны сечение захвата электронов дырками при квадратичной рекомбинации ~ 10-20 см2, коэффициент ожерекомбинации ~ 10-31 см6×с-1, концентрация носителей составляет соответственно ~ 1.3×1018-1.5×1019 см-3. Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса |
|---|