Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт международного образования и языковой коммуникации Кафедра междисциплинарная, Grigoriev D, Lazarev S. V. Sergey Vladimirovich, Schroth Ph. Philipp, Minkevich A, Kohl M, . . . Baumbach T. Tilo. (2016). Asymmetric skew X-ray diffraction at fixed incidence angle: Application to semiconductor nano-objects. 2016. https://doi.org/10.1107/S1600576716006385
Cita Chicago (17th ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт международного образования и языковой коммуникации Кафедра междисциплинарная, et al. Asymmetric Skew X-ray Diffraction at Fixed Incidence Angle: Application to Semiconductor Nano-objects. 2016, 2016. https://doi.org/10.1107/S1600576716006385.
Cita MLA (9th ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт международного образования и языковой коммуникации Кафедра междисциплинарная, et al. Asymmetric Skew X-ray Diffraction at Fixed Incidence Angle: Application to Semiconductor Nano-objects. 2016, 2016. https://doi.org/10.1107/S1600576716006385.