APA引文

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК), Ubaychin A. V. Anton Viktorovich, Alexeev E. Egor, Zhuk G. Gregory, Plotnikova I. V. Inna Vasilievna, Timofeeva E. Evgeniya, . . . Tashhodgaev A. Abdulaziz. (2016). Underlying Surface Remote Sensing by the Microwave Radiometer with High Measurement Rate. 2016. https://doi.org/10.1051/matecconf/20167901013

Chicago Style (17th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК), Ubaychin A. V. Anton Viktorovich, Alexeev E. Egor, Zhuk G. Gregory, Plotnikova I. V. Inna Vasilievna, Timofeeva E. Evgeniya, Abdirasul uulu T. Tilekbek, Danilov D. Daniil, and Tashhodgaev A. Abdulaziz. Underlying Surface Remote Sensing by the Microwave Radiometer with High Measurement Rate. 2016, 2016. https://doi.org/10.1051/matecconf/20167901013.

MLA引文

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК), et al. Underlying Surface Remote Sensing by the Microwave Radiometer with High Measurement Rate. 2016, 2016. https://doi.org/10.1051/matecconf/20167901013.