Томский политехнический университет, Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП), Klopotov А. А., Ivanov Yu. F. Yuriy Fedorovich, Vlasov V. A. Viktor Alekseevich, Kondratyuk А. А. Alexey Alekseevich, . . . Petrikova Е. А. (2016). Aluminum surface layer strengthening using intense pulsedbeam radiation of substrate film system; IOP Conference Series: Materials Science and Engineering; Vol. 156 : Materials and Technologies of New Generations in Modern Materials Science. 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/156/1/012019
Cita Chicago (17th ed.)Томский политехнический университет, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП) Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, Klopotov А. А., Ivanov Yu. F. Yuriy Fedorovich, Vlasov V. A. Viktor Alekseevich, Kondratyuk А. А. Alexey Alekseevich, Teresov А. D., Shugurov V. V. Vladimir Viktorovich, i Petrikova Е. А. Aluminum Surface Layer Strengthening Using Intense Pulsedbeam Radiation of Substrate Film System; IOP Conference Series: Materials Science and Engineering; Vol. 156 : Materials and Technologies of New Generations in Modern Materials Science. 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/156/1/012019.
Cita MLA (9th ed.)Томский политехнический университет, et al. Aluminum Surface Layer Strengthening Using Intense Pulsedbeam Radiation of Substrate Film System; IOP Conference Series: Materials Science and Engineering; Vol. 156 : Materials and Technologies of New Generations in Modern Materials Science. 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/156/1/012019.