Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП), Klopotov А. А., Ivanov Yu. F. Yuriy Fedorovich, Vlasov V. A. Viktor Alekseevich, Kondratyuk А. А. Alexey Alekseevich, . . . Petrikova Е. А. (2016). Aluminum surface layer strengthening using intense pulsedbeam radiation of substrate film system. 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/156/1/012019
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП) Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, Klopotov А. А., Ivanov Yu. F. Yuriy Fedorovich, Vlasov V. A. Viktor Alekseevich, Kondratyuk А. А. Alexey Alekseevich, Teresov А. D., Shugurov V. V. Vladimir Viktorovich, and Petrikova Е. А. Aluminum Surface Layer Strengthening Using Intense Pulsedbeam Radiation of Substrate Film System. 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/156/1/012019.
MLA citiranjeНациональный исследовательский Томский политехнический университет, et al. Aluminum Surface Layer Strengthening Using Intense Pulsedbeam Radiation of Substrate Film System. 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/156/1/012019.