Laser Monitors for High Speed Imaging of Plasma, Beam and Discharge Processes

Opis bibliograficzny
Parent link:Key Engineering Materials: Scientific Journal
Vol. 712 : Advanced Materials for Technical and Medical Purpose (AMTMP 2016).— 2016.— [P. 303-307]
organizacja autorów: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра сильноточной электроники (СЭ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ)
Kolejni autorzy: Trigub M. V. Maksim Viktorovich, Torgaev S. N. Stanislav Nikolaevich, Evtushenko G. S. Gennady Sergeevich, Drobchik V. V. Vitaliy
Streszczenie:Title screen
The imaging results of different processes blocked from the observation by the intense background light are presented in this paper. Active optical systems based on high-frequency brightness amplifier are used to decrease the negative factor of the glare. The experimental and modeling results on obtaining high pulse repetition frequencies (PRF) (more than 100 kHz) of copper bromide vapor brightness amplifiers operating in a low input energy mode are shown. The use of metal vapor brightness amplifiers for visual non-destructive testing of fast processes obscured by the glare is also discussed. It has been shown that the imaging method proposed in this paper proves to be the most reliable to obtain the information about objects or processes in a real time mode using high PRF CuBr active media.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Język:angielski
Wydane: 2016
Seria:Measurement
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.712.303
Format: Elektroniczne Rozdział
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=651349

MARC

LEADER 00000nla2a2200000 4500
001 651349
005 20240409064727.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\16598 
035 |a RU\TPU\network\16596 
090 |a 651349 
100 |a 20161109a2016 k y0engy50 ba 
101 0 |a eng 
105 |a y z 100zy 
135 |a drgn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Laser Monitors for High Speed Imaging of Plasma, Beam and Discharge Processes  |f M. V. Trigub [et al.] 
203 |a Text  |c electronic 
225 1 |a Measurement 
300 |a Title screen 
330 |a The imaging results of different processes blocked from the observation by the intense background light are presented in this paper. Active optical systems based on high-frequency brightness amplifier are used to decrease the negative factor of the glare. The experimental and modeling results on obtaining high pulse repetition frequencies (PRF) (more than 100 kHz) of copper bromide vapor brightness amplifiers operating in a low input energy mode are shown. The use of metal vapor brightness amplifiers for visual non-destructive testing of fast processes obscured by the glare is also discussed. It has been shown that the imaging method proposed in this paper proves to be the most reliable to obtain the information about objects or processes in a real time mode using high PRF CuBr active media. 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
461 0 |0 (RuTPU)RU\TPU\network\11477  |t Key Engineering Materials  |o Scientific Journal 
463 0 |0 (RuTPU)RU\TPU\network\16425  |t Vol. 712 : Advanced Materials for Technical and Medical Purpose (AMTMP 2016)  |o The Workshop , February 15-17, 2016, Tomsk, Russia  |o [proceedings]  |f National Research Tomsk Polytechnic University (TPU) ; eds. G. E. Osokin [et al.]  |v [P. 303-307]  |d 2016 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a лазерные мониторы 
610 1 |a изображения 
610 1 |a плазма 
610 1 |a разрядные процессы 
610 1 |a фоновые излучения 
610 1 |a яркость 
610 1 |a усилители 
610 1 |a лазеры 
701 1 |a Trigub  |b M. V.  |c specialist in the field of non-destructive testing  |c Professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor of technical sciences  |f 1987-  |g Maksim Viktorovich  |y Tomsk  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\31242  |9 15437 
701 1 |a Torgaev  |b S. N.  |c specialist in the field of electronics  |c associate Professor of Tomsk Polytechnic University, candidate of physico-mathematical Sciences  |f 1984-  |g Stanislav Nikolaevich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\31663  |9 15800 
701 1 |a Evtushenko  |b G. S.  |c Doctor of Technical Sciences, Professor of Tomsk Polytechnic University (TPU)  |c Russian specialist in electrophysics  |f 1947-  |g Gennady Sergeevich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\29009  |9 13729 
701 1 |a Drobchik  |b V. V.  |g Vitaliy 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Институт физики высоких технологий (ИФВТ)  |b Кафедра сильноточной электроники (СЭ)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18691 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Институт неразрушающего контроля (ИНК)  |b Кафедра промышленной и медицинской электроники (ПМЭ)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18719 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20170120  |g RCR 
856 4 |u http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.712.303 
942 |c CF