Влияние электронной подсистемы на локализацию деформации и напряжений в поверхностном слое твердых тел

מידע ביבליוגרפי
Parent link:	Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций.— 2016.— [С. 224-225]
מחבר ראשי:	Хон Ю. А.
מחבר תאגידי:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра высшей математики и математической физики (ВММФ)
מחברים אחרים:	Каминский П. П., Молдованова Е. А. Евгения Александровна
סיכום:	Заглавие с экрана
שפה:	רוסית
יצא לאור:	2016
סדרה:	Неустойчивость и локализация деформации и разрушения в материалах с иерархической структурой
נושאים:	электронный ресурс труды учёных ТПУ электронные подсистемы локализация деформации напряжения поверхностные слои твердые тела
גישה מקוונת:	http://www.ispms.ru/files/Conference/2016/Sbornik_1.pdf#page=224
פורמט:	אלקטרוני Book Chapter
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=651084

תיאור
סיכום:	Заглавие с экрана

פריטים דומים