Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра материаловедения в машиностроении (ММС), Savchenko N. Nickolai, Sablina T. Tatiana, Sevostyanova I, Pshenichnyy A. Artem, Buyakova S. P. Svetlana Petrovna, & Kulkov S. N. Sergey Nikolaevich. (2016). X-Ray Diffraction Analysis of the Sintered Y-TZP-AI[2]O[3] Ceramics. 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/140/1/012015
Chicagoスタイル(17版)引用形式Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра материаловедения в машиностроении (ММС), Savchenko N. Nickolai, Sablina T. Tatiana, Sevostyanova I, Pshenichnyy A. Artem, Buyakova S. P. Svetlana Petrovna, , Kulkov S. N. Sergey Nikolaevich. X-Ray Diffraction Analysis of the Sintered Y-TZP-AI[2]O[3] Ceramics. 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/140/1/012015.
MLA(9版)引用形式Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра материаловедения в машиностроении (ММС), et al. X-Ray Diffraction Analysis of the Sintered Y-TZP-AI[2]O[3] Ceramics. 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/140/1/012015.