Нагрев тонкой кристаллической мишени при прохождении коротких банчей электронов высокой энергии

Библиографические подробности
Источник:XLVI Международная Тулиновская конференция по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами: ФВЗЧК-2016: тезисы докладов, г. Москва, 31 мая - 2 июня 2016 г./ Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова (МГУ), Научно-исследовательский институт ядерной физики им. Д. В. Скобельцына (НИИЯФ). [С. 178].— , 2016
Главный автор: Бабаев А. А. Антон Анатольевич
Корпоративные авторы: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Международная научно-образовательная лаборатория неразрушающего контроля (МНОЛ НК)
Другие авторы: Гоголев А. С. Алексей Сергеевич
Примечания:Заглавие с экрана
Для диагностики пучка - его профиля, продольного размера и т.п. - может быть использовано излучение, возникающее при прохождении этого пучка через тонкую кристаллическую мишень /1-3/. Электронные пучки, используемые в современных установках (например, пучки лазеров на свободных электронах, FEL) имеют высокую яркость, малый эмиттанс и очень короткую длину банча. Например, банчи пучка XFEL имеют длину порядка 25 мкм и заряд порядка 1 нКл при энергии электронов 17 ГэВ /4/. Прохождение таких коротких банчей при их столь высокой энергии может привести к повреждению мишени и её выходу из строя. В представленной работе рассмотрены нагрев мишени и возникающие при этом её деформации при последовательном прохождении таких банчей. Показано, что мишень работает в критическом режиме, близком к температуре фазового перехода и пороговым значениям напряжений материала. Работа поддержана грантом Министерства науки и образования РФ №3761 по программе «Наука».
Язык:русский
Опубликовано: 2016
Серии:Модификация и анализ поверхности
Предметы:
Online-ссылка:http://danp.sinp.msu.ru/pci2016/PragramFull_pci2016.pdf#page=198
Формат: Электронный ресурс Статья
Запись в KOHA:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=650682

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 650682
005 20250903135434.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\15931 
090 |a 650682 
100 |a 20161017d2016 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Нагрев тонкой кристаллической мишени при прохождении коротких банчей электронов высокой энергии  |f А. А. Бабаев, А. С. Гоголев 
203 |a Текст  |c электронный 
225 1 |a Модификация и анализ поверхности 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a [Библиогр.: с. 178 (4 назв.)] 
330 |a Для диагностики пучка - его профиля, продольного размера и т.п. - может быть использовано излучение, возникающее при прохождении этого пучка через тонкую кристаллическую мишень /1-3/. Электронные пучки, используемые в современных установках (например, пучки лазеров на свободных электронах, FEL) имеют высокую яркость, малый эмиттанс и очень короткую длину банча. Например, банчи пучка XFEL имеют длину порядка 25 мкм и заряд порядка 1 нКл при энергии электронов 17 ГэВ /4/. Прохождение таких коротких банчей при их столь высокой энергии может привести к повреждению мишени и её выходу из строя. В представленной работе рассмотрены нагрев мишени и возникающие при этом её деформации при последовательном прохождении таких банчей. Показано, что мишень работает в критическом режиме, близком к температуре фазового перехода и пороговым значениям напряжений материала. Работа поддержана грантом Министерства науки и образования РФ №3761 по программе «Наука». 
463 |t XLVI Международная Тулиновская конференция по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами: ФВЗЧК-2016  |o тезисы докладов, г. Москва, 31 мая - 2 июня 2016 г.  |f Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова (МГУ), Научно-исследовательский институт ядерной физики им. Д. В. Скобельцына (НИИЯФ)  |v [С. 178]  |d 2016 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a кристаллические мишени 
610 1 |a электроны 
610 1 |a высокие энергии 
700 1 |a Бабаев  |b А. А.  |c физик  |c инженер-исследовательТомского политехнического университета, кандидат физико-математических наук  |f 1981-  |g Антон Анатольевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\35152  |9 18419 
701 1 |a Гоголев  |b А. С.  |c физик  |c доцент Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук  |f 1983-  |g Алексей Сергеевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\26565  |9 12254 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Физико-технический институт (ФТИ)  |b Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18729 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Институт неразрушающего контроля (ИНК)  |b Международная научно-образовательная лаборатория неразрушающего контроля (МНОЛ НК)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\19961 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20170310  |g RCR 
850 |a 63413507 
856 4 |u http://danp.sinp.msu.ru/pci2016/PragramFull_pci2016.pdf#page=198 
942 |c CF