Нагрев тонкой кристаллической мишени при прохождении коротких банчей электронов высокой энергии
| Parent link: | XLVI Международная Тулиновская конференция по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами: ФВЗЧК-2016: тезисы докладов, г. Москва, 31 мая - 2 июня 2016 г./ Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова (МГУ), Научно-исследовательский институт ядерной физики им. Д. В. Скобельцына (НИИЯФ). [С. 178].— , 2016 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Corporate Authors: | , |
| Other Authors: | |
| Summary: | Заглавие с экрана Для диагностики пучка - его профиля, продольного размера и т.п. - может быть использовано излучение, возникающее при прохождении этого пучка через тонкую кристаллическую мишень /1-3/. Электронные пучки, используемые в современных установках (например, пучки лазеров на свободных электронах, FEL) имеют высокую яркость, малый эмиттанс и очень короткую длину банча. Например, банчи пучка XFEL имеют длину порядка 25 мкм и заряд порядка 1 нКл при энергии электронов 17 ГэВ /4/. Прохождение таких коротких банчей при их столь высокой энергии может привести к повреждению мишени и её выходу из строя. В представленной работе рассмотрены нагрев мишени и возникающие при этом её деформации при последовательном прохождении таких банчей. Показано, что мишень работает в критическом режиме, близком к температуре фазового перехода и пороговым значениям напряжений материала. Работа поддержана грантом Министерства науки и образования РФ №3761 по программе «Наука». |
| Language: | Russian |
| Published: |
2016
|
| Series: | Модификация и анализ поверхности |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://danp.sinp.msu.ru/pci2016/PragramFull_pci2016.pdf#page=198 |
| Format: | Electronic Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=650682 |
| Summary: | Заглавие с экрана Для диагностики пучка - его профиля, продольного размера и т.п. - может быть использовано излучение, возникающее при прохождении этого пучка через тонкую кристаллическую мишень /1-3/. Электронные пучки, используемые в современных установках (например, пучки лазеров на свободных электронах, FEL) имеют высокую яркость, малый эмиттанс и очень короткую длину банча. Например, банчи пучка XFEL имеют длину порядка 25 мкм и заряд порядка 1 нКл при энергии электронов 17 ГэВ /4/. Прохождение таких коротких банчей при их столь высокой энергии может привести к повреждению мишени и её выходу из строя. В представленной работе рассмотрены нагрев мишени и возникающие при этом её деформации при последовательном прохождении таких банчей. Показано, что мишень работает в критическом режиме, близком к температуре фазового перехода и пороговым значениям напряжений материала. Работа поддержана грантом Министерства науки и образования РФ №3761 по программе «Наука». |
|---|