Hard X–ray Laue monochromator; IOP Conference Series: Materials Science and Engineering; Vol. 135 : Issues of Physics and Technology in Science, Industry and Medicine

Dettagli Bibliografici
Parent link:IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
Vol. 135 : Issues of Physics and Technology in Science, Industry and Medicine.— 2016.— [012018, 5 p.]
Enti autori: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра (РКНЛ РКД)
Altri autori: Kocharian (Kocharyan) V. R. Vagan Rashidovich, Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Kiziridi A. A. Aydana Abayevna, Batranin A. V. Andrey Viktorovich, Muradyan T. R.
Riassunto:Title screen
Experimental studies of X-ray diffraction from reflecting atomic planes (1011) of X-cut quartz single crystal in Laue geometry influenced by the temperature gradient were carried out. It is shown that by using the temperature gradient it is possible to reflect a hard Xray beam with photon energy near the 100 keV with high efficiency. It has been experimentally proved that the intensity of the reflected beam can be increased by more than order depending on the value of the temperature gradient.
Lingua:inglese
Pubblicazione: 2016
Soggetti:
Accesso online:http://dx.doi.org/10.1088/1757-899X/135/1/012018
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/34806
Natura: Elettronico Capitolo di libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=650273

MARC

LEADER 00000nla2a2200000 4500
001 650273
005 20240126122403.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\15485 
035 |a RU\TPU\network\15482 
090 |a 650273 
100 |a 20160928a2016 k y0engy50 ba 
101 0 |a eng 
102 |a GB 
105 |a y z 100zy 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Hard X–ray Laue monochromator  |f V. R. Kocharian (Kocharyan) [et al.] 
203 |a Text  |c electronic 
300 |a Title screen 
320 |a [References: 10 tit.] 
330 |a Experimental studies of X-ray diffraction from reflecting atomic planes (1011) of X-cut quartz single crystal in Laue geometry influenced by the temperature gradient were carried out. It is shown that by using the temperature gradient it is possible to reflect a hard Xray beam with photon energy near the 100 keV with high efficiency. It has been experimentally proved that the intensity of the reflected beam can be increased by more than order depending on the value of the temperature gradient. 
461 0 |0 (RuTPU)RU\TPU\network\2008  |t IOP Conference Series: Materials Science and Engineering 
463 0 |0 (RuTPU)RU\TPU\network\15011  |t Vol. 135 : Issues of Physics and Technology in Science, Industry and Medicine  |o VIII International Scientific Conference, 1–3 June 2016, Tomsk, Russia  |o [proceedings]  |v [012018, 5 p.]  |d 2016 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a монохроматоры 
610 1 |a дифракция 
610 1 |a рентгеновские лучи 
610 1 |a атомные плоскости 
610 1 |a монокристаллы 
610 1 |a пучки 
701 1 |a Kocharian (Kocharyan)  |b V. R.  |c physicist  |c assistant of Tomsk Polytechnic University, candidate of physico-mathematical Sciences  |f 1976-  |g Vagan Rashidovich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\34228 
701 1 |a Gogolev  |b A. S.  |c physicist  |c associate professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical sciences  |f 1983-  |g Aleksey Sergeevich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\31537  |9 15698 
701 1 |a Kiziridi  |b A. A.  |c physicist  |c engineer at Tomsk Polytechnic University  |f 1989-  |g Aydana Abayevna  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\39846 
701 1 |a Batranin  |b A. V.  |c Specialist in the field of welding production  |c Assistant of Tomsk Polytechnic University  |f 1980-  |g Andrey Viktorovich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\32706  |9 16592 
701 1 |a Muradyan  |b T. R. 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Физико-технический институт (ФТИ)  |b Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18729 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Институт неразрушающего контроля (ИНК)  |b Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра (РКНЛ РКД)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\21551 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20171122  |g RCR 
856 4 |u http://dx.doi.org/10.1088/1757-899X/135/1/012018 
856 4 |u http://earchive.tpu.ru/handle/11683/34806 
942 |c CF