Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра (РКНЛ РКД), Kocharian V. R. Vagan Rashidovich, Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Kiziridi A. A. Aydana Abayevna, Batranin A. V. Andrey Viktorovich, & Muradyan T. R. (2016). Hard X–ray Laue monochromator; IOP Conference Series: Materials Science and Engineering; Vol. 135 : Issues of Physics and Technology in Science, Industry and Medicine. 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/135/1/012018
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра (РКНЛ РКД), Kocharian V. R. Vagan Rashidovich, Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Kiziridi A. A. Aydana Abayevna, Batranin A. V. Andrey Viktorovich, and Muradyan T. R. Hard X–ray Laue Monochromator; IOP Conference Series: Materials Science and Engineering; Vol. 135 : Issues of Physics and Technology in Science, Industry and Medicine. 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/135/1/012018.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), et al. Hard X–ray Laue Monochromator; IOP Conference Series: Materials Science and Engineering; Vol. 135 : Issues of Physics and Technology in Science, Industry and Medicine. 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/135/1/012018.