Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра (РКНЛ РКД), Kocharian V. R. Vagan Rashidovich, Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Kiziridi A. A. Aydana Abayevna, Batranin A. V. Andrey Viktorovich, & Muradyan T. R. (2016). Hard X–ray Laue monochromator; IOP Conference Series: Materials Science and Engineering; Vol. 135 : Issues of Physics and Technology in Science, Industry and Medicine. 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/135/1/012018
Cita Chicago Style (17a ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра (РКНЛ РКД), Kocharian V. R. Vagan Rashidovich, Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Kiziridi A. A. Aydana Abayevna, Batranin A. V. Andrey Viktorovich, y Muradyan T. R. Hard X–ray Laue Monochromator; IOP Conference Series: Materials Science and Engineering; Vol. 135 : Issues of Physics and Technology in Science, Industry and Medicine. 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/135/1/012018.
Cita MLA (9a ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), et al. Hard X–ray Laue Monochromator; IOP Conference Series: Materials Science and Engineering; Vol. 135 : Issues of Physics and Technology in Science, Industry and Medicine. 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/135/1/012018.