Vol. 132 : Modern Technologies for Non-Destructive Testing, IV International Conference, 5–10 October 2015, Tomsk, Russia

מידע ביבליוגרפי
Parent link:IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. Vol. 132 : Modern Technologies for Non-Destructive Testing
Corporate Authors: Modern Technologies for Non-Destructive Testing, National Research Tomsk Polytechnic University (TPU)
סיכום:Title screen
יצא לאור: 2016
נושאים:
גישה מקוונת:http://iopscience.iop.org/issue/1757-899X/132/1
פורמט: אלקטרוני ספר
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=650137

פריטים דומים