К вопросу об определении фазового состава в объеме образцов циркониевой керамики; Системы. Методы. Технологии; № 2 (18)

Bibliografiske detaljer
Parent link:Системы. Методы. Технологии: научный журнал.— , 2009-
№ 2 (18).— 2013.— [С. 102-105]
Hovedforfatter: Гынгазов С. А. Сергей Анатольевич
Corporate Authors: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Кафедра физических методов и приборов контроля качества, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников
Andre forfattere: Франгульян Т. С. Тамара Семёновна, Васильев И. П.
Summary:Заглавие с экрана
Рассмотрен вопрос о распределении фазового состава по глубине образцов циркониевой керамики, спеченной из ультрадисперсных плазмохимических порошков ZrO[2]-3 мол.%Y[2]O[3]. Методом рентгенофазового анализа (РФА) изучено влияние процессов сошлифовки приповерхностных слоев циркониевой керамики на ее фазовый состав. Установлено, что механическая обработка поверхности керамики абразивами приводит к образованию моноклинной (m) фазы в ее приповерхностных слоях. Показано, что образующиеся в результате шлифовки зерна моноклинной фазы при последующем кратковременном термическом отжиге при T=1000 °C испытывают обратный фазовый переход в тетрагональную (t) модификацию.
The issue of the depth phase composition distribution in the samples of zirconia ceramics sintered from ultrafine plasma-chemical powder ZrO 2 - 3 mol % Y 2O 3 has been discussed. The X-ray diffraction (XRD) was used to study the effect of sub-surface layers grinding on the zirconia ceramics phase composition. It has been found that machine processing of ceramic surface using abrasive materials leads to the formation of monoclinic (m) phase in its sub-surface layers. It has been shown that the monoclinic phase particles forming at the subsequent short-time thermal annealing at T = 1000 ° C experience a reverse phase transition to the tetragonal (t) modification. The regenerative thermal annealing of ceramics is advisable as a compulsory procedure while conducting the XRD on the zirconium oxide, its surface being machine processed. The results obtained demonstrate that sintered zirconia ceramics consists of tetragonal zirconium oxide and is characterized by its uniform distribution along the sample depth.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Sprog:russisk
Udgivet: 2013
Fag:
Online adgang:http://brstu.ru/static/unit/journal_smt/docs/number18/102-105.pdf
http://elibrary.ru/item.asp?id=21082898
Format: MixedMaterials Electronisk Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=649224

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 649224
005 20250303134123.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\14385 
035 |a RU\TPU\network\14384 
090 |a 649224 
100 |a 20160624d2013 k||y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a К вопросу об определении фазового состава в объеме образцов циркониевой керамики  |d On the issue of determination of phase composition in bulk zirconia ceramics  |f С. А. Гынгазов, Т. С. Франгульян, И. П. Васильев 
203 |a Текст  |c электронный 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a [Библиогр.: с. 105 (9 назв.)] 
330 |a Рассмотрен вопрос о распределении фазового состава по глубине образцов циркониевой керамики, спеченной из ультрадисперсных плазмохимических порошков ZrO[2]-3 мол.%Y[2]O[3]. Методом рентгенофазового анализа (РФА) изучено влияние процессов сошлифовки приповерхностных слоев циркониевой керамики на ее фазовый состав. Установлено, что механическая обработка поверхности керамики абразивами приводит к образованию моноклинной (m) фазы в ее приповерхностных слоях. Показано, что образующиеся в результате шлифовки зерна моноклинной фазы при последующем кратковременном термическом отжиге при T=1000 °C испытывают обратный фазовый переход в тетрагональную (t) модификацию. 
330 |a The issue of the depth phase composition distribution in the samples of zirconia ceramics sintered from ultrafine plasma-chemical powder ZrO 2 - 3 mol % Y 2O 3 has been discussed. The X-ray diffraction (XRD) was used to study the effect of sub-surface layers grinding on the zirconia ceramics phase composition. It has been found that machine processing of ceramic surface using abrasive materials leads to the formation of monoclinic (m) phase in its sub-surface layers. It has been shown that the monoclinic phase particles forming at the subsequent short-time thermal annealing at T = 1000 ° C experience a reverse phase transition to the tetragonal (t) modification. The regenerative thermal annealing of ceramics is advisable as a compulsory procedure while conducting the XRD on the zirconium oxide, its surface being machine processed. The results obtained demonstrate that sintered zirconia ceramics consists of tetragonal zirconium oxide and is characterized by its uniform distribution along the sample depth. 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
461 |t Системы. Методы. Технологии  |o научный журнал  |d 2009- 
463 |t № 2 (18)  |v [С. 102-105]  |d 2013 
510 1 |a On the issue of determination of phase composition in bulk zirconia ceramics  |z eng 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a керамические материалы 
610 1 |a фазовый состав 
610 1 |a шлифовка 
700 1 |a Гынгазов  |b С. А.  |c специалист в области электроники  |c профессор Томского политехнического университета, доктор технических наук  |f 1958-  |g Сергей Анатольевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\26531  |9 12225 
701 1 |a Франгульян  |b Т. С.  |c специалист в области электроники, диэлектриков и полупроводников  |c ведущий научный сотрудник Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук  |f 1940-  |g Тамара Семёновна  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\26534  |9 12228 
701 1 |a Васильев  |b И. П. 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |b Институт неразрушающего контроля  |b Кафедра физических методов и приборов контроля качества  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18709  |9 27162 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |b Институт неразрушающего контроля  |b Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\19033  |9 27309 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20160624  |g RCR 
856 4 0 |u http://brstu.ru/static/unit/journal_smt/docs/number18/102-105.pdf 
856 4 0 |u http://elibrary.ru/item.asp?id=21082898 
942 |c CF