APA ציטוט

Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Кафедра физических методов и приборов контроля качества, Суржиков А. П. Анатолий Петрович, Франгульян Т. С. Тамара Семёновна, Гынгазов С. А. Сергей Анатольевич, & Васильев И. П. Иван Петрович. (2014). Электронно-микроскопические исследования приповерхностных слоев композиционной керамики системы ZrO[2](Y) - Al[2]O[3], модифицированных сильноточным пучком низкоэнергетических электронов. 2014.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Кафедра физических методов и приборов контроля качества, Суржиков А. П. Анатолий Петрович, Франгульян Т. С. Тамара Семёновна, Гынгазов С. А. Сергей Анатольевич, and Васильев И. П. Иван Петрович. Электронно-микроскопические исследования приповерхностных слоев композиционной керамики системы ZrO[2](Y) - Al[2]O[3], модифицированных сильноточным пучком низкоэнергетических электронов. 2014, 2014.

ציטוט MLA

Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Кафедра физических методов и приборов контроля качества, et al. Электронно-микроскопические исследования приповерхностных слоев композиционной керамики системы ZrO[2](Y) - Al[2]O[3], модифицированных сильноточным пучком низкоэнергетических электронов. 2014, 2014.