Język
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Wszystkie pola
Tytuł
Autor
Hasło przedmiotowe
ISBN / ISSN
Etykieta
Identyfikator
Szukaj
Wyszukiwanie zaawansowane
Application of atomic force mi...
Wyślij wiadomość
Wyślij wiadomość:
Application of atomic force microscopy methods for testing the surface parameters of coatings of medical implants; Russian Journal of Nondestructive Testing; Vol. 47, iss. 11
Numer:
Dostawca:
Wybierz operatora telefonicznego
Alltel
AT&T
Cricket
Nextel
Sprint
T Mobile
Verizon
Virgin Mobile