Методы исследования структуры нанокристаллических покрытий с использованием синхротронного излучения; Известия вузов. Физика; Т. 53, № 10-2

Dettagli Bibliografici
Parent link:Известия вузов. Физика: научный журнал/ Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ).— , 1957-
Т. 53, № 10-2.— 2010.— [С. 139-145]
Ente Autore: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
Altri autori: Галимов Р. М. Руслан Маликович, Тимченко Н. А. Николай Алексеевич, Чернов И. П. Иван Петрович, Иванов Ю. Ф. Юрий Федорович, Коваль Н. Н. Николай Николаевич, Крысина О. В., Слободский Т.
Riassunto:Заглавие с экрана
Рассмотрены методы исследования нанокристаллических слоев и покрытий, получаемых плазменными и пучковыми технологиями с использованием дифракционных и спектральных методов, развиваемых на источниках синхротронного излучения. Представлено описание экспериментальных установок. Методы иллюстрируются примерами проведенных исследований нанокристаллических покрытий на основе нитрида титана. Приведены результаты исследований покрытий методами рентгеноструктурного анализа, рентгенофлуоресцентного анализа. Определены распределения кристаллитов по размерам. Обсуждается модель формирования наноразмерных структур.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Lingua:russo
Pubblicazione: 2010
Soggetti:
Accesso online:http://elibrary.ru/item.asp?id=16451499
Natura: Elettronico Capitolo di libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=648430

Documenti analoghi