Методы исследования структуры нанокристаллических покрытий с использованием синхротронного излучения; Известия вузов. Физика; Т. 53, № 10-2

מידע ביבליוגרפי
Parent link:Известия вузов. Физика: научный журнал/ Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ).— , 1957-
Т. 53, № 10-2.— 2010.— [С. 139-145]
מחבר תאגידי: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
מחברים אחרים: Галимов Р. М. Руслан Маликович, Тимченко Н. А. Николай Алексеевич, Чернов И. П. Иван Петрович, Иванов Ю. Ф. Юрий Федорович, Коваль Н. Н. Николай Николаевич, Крысина О. В., Слободский Т.
סיכום:Заглавие с экрана
Рассмотрены методы исследования нанокристаллических слоев и покрытий, получаемых плазменными и пучковыми технологиями с использованием дифракционных и спектральных методов, развиваемых на источниках синхротронного излучения. Представлено описание экспериментальных установок. Методы иллюстрируются примерами проведенных исследований нанокристаллических покрытий на основе нитрида титана. Приведены результаты исследований покрытий методами рентгеноструктурного анализа, рентгенофлуоресцентного анализа. Определены распределения кристаллитов по размерам. Обсуждается модель формирования наноразмерных структур.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
שפה:רוסית
יצא לאור: 2010
נושאים:
גישה מקוונת:http://elibrary.ru/item.asp?id=16451499
פורמט: אלקטרוני Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=648430

פריטים דומים