Влияние внутренних полей на туннельный ток в напряженных структурах GaN/AlxGa1-xN(0001); Физика и техника полупроводников; Т. 37, вып. 4

Bibliographic Details
Parent link:Физика и техника полупроводников.— , 1967-
Т. 37, вып. 4.— 2003.— [С. 450-455]
Main Author: Гриняев С. Н. Сергей Николаевич
Other Authors: Разжувалов А. Н. Александр Николаевич
Summary:Заглавие с экрана
На основе методов псевдопотенциала и матрицы рассеяния изучено влияние внутренних полей на туннельный ток в нитридных структурах w-GaN/AlxGa1-xN(0001) с напряженными барьерными слоями. Показано, что в симметричных двухбарьерных структурах спонтанная поляризация и пьезоэлектрическое поле приводят к асимметрии вольт-амперной характеристики при изменении направления внешнего поля, а в несимметричных структурах, дополнительно к этому, вызывают зависимость тока от расположения слоев вдоль полярной оси. В ограниченных сверхрешетках внутренние поля формируют штарковскую лестницу электронных состояний, которая проявляется в пиках тока при относительно слабом внешнем поле (~10 кВ/см). Выраженные особенности в туннельном токе наблюдаются при толщинах слоев, примерно в 2 раза меньших по сравнению со структурами GaAs/AlGaAs(001). Зависимость туннельного тока от толщины и положения слоев, температуры и степени легирования объяснена из анализа эффекта Штарка для резонансных состояний.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Language:Russian
Published: 2003
Subjects:
Online Access:http://journals.ioffe.ru/articles/5250
http://elibrary.ru/item.asp?id=20333566
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=648241

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 648241
005 20250220094159.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\13398 
090 |a 648241 
100 |a 20160513d2003 k||y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Влияние внутренних полей на туннельный ток в напряженных структурах GaN/AlxGa1-xN(0001)  |d The effect of internal fields on tunneling current in strained GaN/AlxGa1?x N(0001) structures  |f С. Н. Гриняев, А. Н. Разжувалов 
203 |a Текст  |c электронный 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a [Библиогр.: 13 назв.] 
330 |a На основе методов псевдопотенциала и матрицы рассеяния изучено влияние внутренних полей на туннельный ток в нитридных структурах w-GaN/AlxGa1-xN(0001) с напряженными барьерными слоями. Показано, что в симметричных двухбарьерных структурах спонтанная поляризация и пьезоэлектрическое поле приводят к асимметрии вольт-амперной характеристики при изменении направления внешнего поля, а в несимметричных структурах, дополнительно к этому, вызывают зависимость тока от расположения слоев вдоль полярной оси. В ограниченных сверхрешетках внутренние поля формируют штарковскую лестницу электронных состояний, которая проявляется в пиках тока при относительно слабом внешнем поле (~10 кВ/см). Выраженные особенности в туннельном токе наблюдаются при толщинах слоев, примерно в 2 раза меньших по сравнению со структурами GaAs/AlGaAs(001). Зависимость туннельного тока от толщины и положения слоев, температуры и степени легирования объяснена из анализа эффекта Штарка для резонансных состояний. 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
461 |t Физика и техника полупроводников  |d 1967- 
463 |t Т. 37, вып. 4  |v [С. 450-455]  |d 2003 
510 1 |a The effect of internal fields on tunneling current in strained GaN/AlxGa1?x N(0001) structures  |z eng 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
700 1 |a Гриняев  |b С. Н.  |c физик  |c доцент Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук  |f 1951-  |g Сергей Николаевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\28952  |9 13685 
701 1 |a Разжувалов  |b А. Н.  |c физик  |c доцент Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук   |f 1976-  |g Александр Николаевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\33656  |9 17300 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20160513  |g RCR 
856 4 |u http://journals.ioffe.ru/articles/5250 
856 4 |u http://elibrary.ru/item.asp?id=20333566 
942 |c CF