Self-consistent calculation of tunneling current in w-GaN/AlGaN(0001) two-barrier heterostructures; Semiconductors; Vol. 40, iss. 6
| Parent link: | Semiconductors: Scientific Journal Vol. 40, iss. 6.— 2006.— [P. 675-680] |
|---|---|
| Hlavní autor: | Grinyaev S. N. Sergey Nikolaevich |
| Další autoři: | Razzhuvalov A. N. Alexander Nikolaevich |
| Shrnutí: | Title screen The specific features of the tunneling current in wurtzite GaN/AlGaN(0001) two-barrier structures are studied by solving the Schrodinger equation and the Poisson equation simultaneously, with regard to spontaneous and piezoelectric polarizations. It is shown that the internal fields manifest themselves in the asymmetry of the tunneling current via the value of the electronic charge in the quantum well. This charge is larger when the internal and external fields in the well compensate each other, resulting in smaller shifts of potential and resonance levels in the active region with voltage, in the higher resistance of the structure, and in the linear current-voltage dependence within a wide range of voltages. When the internal and external fields are the same, the current exhibits a sharp negative-differential-conductivity structure, with the peak-to-valley ratio equal to about four. The structure is similar to one of the branches of the current-voltage characteristic of the GaAs/AlGaAs(001) two-barrier structure, suggesting that nitrides are promising materials for resonance-tunneling devices. Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
2006
|
| Edice: | Low-Dimensional Systems |
| Témata: | |
| On-line přístup: | http://dx.doi.org/10.1134/S1063782606060121 |
| Médium: | Elektronický zdroj Kapitola |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=648238 |
Podobné jednotky
Hysteresis of tunnel current in w-GaN/AlGaN(0001) double-barrier structures; Semiconductors; Vol. 42, iss. 5
Autor: Razzhuvalov A. N. Alexander Nikolaevich
Vydáno: (2008)
Autor: Razzhuvalov A. N. Alexander Nikolaevich
Vydáno: (2008)
A “capacitor” model of the hysteresis of tunneling current in w-GaN/AlGaN(0001) structures; Physics of the Solid State; Vol. 51, iss. 1
Autor: Razzhuvalov A. N. Alexander Nikolaevich
Vydáno: (2009)
Autor: Razzhuvalov A. N. Alexander Nikolaevich
Vydáno: (2009)
The effect of internal fields on tunneling current in strained GaN/AlxGa1-x N(0001) structures; Semiconductors; Vol. 37, iss. 4
Autor: Grinyaev S. N. Sergey Nikolaevich
Vydáno: (2003)
Autor: Grinyaev S. N. Sergey Nikolaevich
Vydáno: (2003)
Peculiarities of tunneling current in w-AlN/GaN(0001) two-barrier structures induced by deep-level defects; Journal of Applied Physics; Vol. 120, iss. 5
Autor: Grinyaev S. N. Sergey Nikolaevich
Vydáno: (2016)
Autor: Grinyaev S. N. Sergey Nikolaevich
Vydáno: (2016)
Tunneling current in w-GaN/AlN(0001) structures with deep-level defects; Superlattices and Microstructures; Vol. 122
Autor: Razzhuvalov A. N. Alexander Nikolaevich
Vydáno: (2018)
Autor: Razzhuvalov A. N. Alexander Nikolaevich
Vydáno: (2018)
“Конденсаторная” модель гистерезиса туннельного тока в структурах w-GaN/AlGaN(0001); Физика твёрдого тела; Т. 51, вып. 1
Autor: Разжувалов А. Н. Александр Николаевич
Vydáno: (2009)
Autor: Разжувалов А. Н. Александр Николаевич
Vydáno: (2009)
Гистерезис туннельного тока в двухбарьерных структурах w-GaN/AlGaN(0001); Физика и техника полупроводников; Т. 42, вып. 5
Autor: Разжувалов А. Н. Александр Николаевич
Vydáno: (2008)
Autor: Разжувалов А. Н. Александр Николаевич
Vydáno: (2008)
Особенности туннельного тока в двухбарьерных нитридных структурах w-GaN/AlGaN(0001); Нитриды галлия, индия и алюминия - структуры и приборы
Autor: Разжувалов А. Н. Александр Николаевич
Vydáno: (2005)
Autor: Разжувалов А. Н. Александр Николаевич
Vydáno: (2005)
Самосогласованный расчет туннельного тока в двухбарьерных гетероструктурах w-GaN / AlGaN (0001); Физика и техника полупроводников; Т. 40, вып. 6
Autor: Гриняев С. Н. Сергей Николаевич
Vydáno: (2006)
Autor: Гриняев С. Н. Сергей Николаевич
Vydáno: (2006)
Влияние дефектов на туннельный ток в структурах w-GaN/AlGaN(0001); Нитриды галлия, индия и алюминия: структуры и приборы
Autor: Разжувалов А. Н. Александр Николаевич
Vydáno: (2008)
Autor: Разжувалов А. Н. Александр Николаевич
Vydáno: (2008)
Resonant electron tunneling in GaN/Ga1-x AlxN(0001) strained structures with spontaneous polarization and piezoeffec; Physics of the Solid State; Vol. 43, iss. 3
Autor: Grinyaev S. N. Sergey Nikolaevich
Vydáno: (2001)
Autor: Grinyaev S. N. Sergey Nikolaevich
Vydáno: (2001)
Physical nature of size effects in TiAlNiAu/GaN ohmic contacts to AlGaN/GaN heteroepitaxial structures; Semiconductor Science and Technology; Vol. 37, iss. 5
Vydáno: (2022)
Vydáno: (2022)
Analysis of boundary conditions for the envelope functions of GaN/InGaN(0001) heterostructures; Russian Physics Journal; Vol. 55, iss. 7
Autor: Karavaev G. F. Gennady Fedorovich
Vydáno: (2012)
Autor: Karavaev G. F. Gennady Fedorovich
Vydáno: (2012)
"Двурезонансный" гистерезис туннельного тока в гетероструктурах w-GaN/AlGaN; Нитриды галлия, индия и алюминия: структуры и приборы
Autor: Разжувалов А. Н. Александр Николаевич
Vydáno: (2007)
Autor: Разжувалов А. Н. Александр Николаевич
Vydáno: (2007)
Роль глубоких уровней в токе туннельных диодов w-AlGaN/GaN; Нитриды галлия, индия и алюминия: структуры и приборы
Autor: Разжувалов А. Н. Александр Николаевич
Vydáno: (2015)
Autor: Разжувалов А. Н. Александр Николаевич
Vydáno: (2015)
Luminescent diagnostics of led heterostructures based on InGaN/GaN; Energy Fluxes and Radiation Effects (EFRE-2016)
Vydáno: (2016)
Vydáno: (2016)
Эпитаксиальные слои GaN на кремниевых подложках для AlGaN/GaN гетероструктур с высокой подвижностью электронов: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук; спец. 1.3.11
Autor: Малин Т. В. Тимур Валерьевич
Vydáno: (Новосибирск, 2025)
Autor: Малин Т. В. Тимур Валерьевич
Vydáno: (Новосибирск, 2025)
The morphology of high-current electron-beam-initiated fractures in InGaN/GaN heterostructures; Technical Physics Letters; Vol. 41, iss. 8
Autor: Oleshko V. I. Vladimir Ivanovich
Vydáno: (2015)
Autor: Oleshko V. I. Vladimir Ivanovich
Vydáno: (2015)
Анализ граничных условий для огибающих функций в гетероструктурах GaN/InGaN(0001); Известия вузов. Физика; Т. 55, № 7
Autor: Караваев Г. Ф. Геннадий Федорович
Vydáno: (2012)
Autor: Караваев Г. Ф. Геннадий Федорович
Vydáno: (2012)
High-voltage MIS-gated GaN transistors; Semiconductors; Vol. 51, iss. 9
Vydáno: (2017)
Vydáno: (2017)
Defect-rich GaN interlayer facilitating the annihilation of threading dislocations in polar GaN crystals grown on (0001)-oriented sapphire substrates; Journal of Applied Physics; Vol. 126, iss. 8
Vydáno: (2019)
Vydáno: (2019)
Characterization of Defects and Deep Levels for GaN Power Devices
Autor: Narita, Tetsuo
Vydáno: (2020)
Autor: Narita, Tetsuo
Vydáno: (2020)
Влияние внутренних полей на туннельный ток в напряженных структурах GaN/AlxGa1-xN(0001); Физика и техника полупроводников; Т. 37, вып. 4
Autor: Гриняев С. Н. Сергей Николаевич
Vydáno: (2003)
Autor: Гриняев С. Н. Сергей Николаевич
Vydáno: (2003)
Время-разрешенная фотолюминесценция в квантовых ямах InGaN/GaN; Известия вузов. Физика; Т. 56, № 7-2
Autor: Олешко В. И. Владимир Иванович
Vydáno: (2013)
Autor: Олешко В. И. Владимир Иванович
Vydáno: (2013)
Физическое моделирование GaN/AlGaN HEMTнаногетероструктур и мощных СВЧ-транзисторовс использованием пакета Synopsys; Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники; № 2 (26), ч. 2
Vydáno: (2012)
Vydáno: (2012)
Резонансное туннелирование электронов в напряженных структурах GaN/Ga1-xAlxN(0001) с учетом спонтанной поляризации и пьезоэффекта; Физика твёрдого тела; Т. 43, вып. 3
Autor: Гриняев С. Н. Сергей Николаевич
Vydáno: (2001)
Autor: Гриняев С. Н. Сергей Николаевич
Vydáno: (2001)
X-ray Bragg Ptychography on a Single InGaN/GaN Core-Shell Nanowire; ACS Nano; Vol. 11, iss. 7
Vydáno: (2017)
Vydáno: (2017)
Времяразрешенная люминесцентная спектроскопия гетероструктур на основе InGaN/GaN-квантовых ям; Известия вузов. Физика; Т. 56, № 8-3
Vydáno: (2013)
Vydáno: (2013)
Physical mechanisms of the influence of γ-ray surface treatment on the characteristics of close AuNi/n-n+-GaN Schottky contacts; Semiconductor Science and Technology; Vol. 37, iss. 10
Vydáno: (2022)
Vydáno: (2022)
Тест-система диагностики температурных характеристик светоизлучающих наногетероструктур на основе твердых растворов AlGaN И GaInN; Современные техника и технологии; Т. 3
Autor: Менькович Е. А.
Vydáno: (2012)
Autor: Менькович Е. А.
Vydáno: (2012)
Increase the threshold voltage of high voltage GaN transistors by low temperature atomic hydrogen treatment; Semiconductors; Vol. 51, iss. 2
Vydáno: (2017)
Vydáno: (2017)
Механизмы разрушения в гетероструктурах InGaN/GaN под действием сильноточного электронного пучка; Ученые записки физического факультета Московского университета; № 5
Autor: Олешко В. И. Владимир Иванович
Vydáno: (2015)
Autor: Олешко В. И. Владимир Иванович
Vydáno: (2015)
Деградация светодиодных гетероструктур на основе InGaN/GaN при возбуждении сильноточным электронным пучком; Известия вузов. Физика; Т. 56, № 8-3
Autor: Олешко В. И. Владимир Иванович
Vydáno: (2013)
Autor: Олешко В. И. Владимир Иванович
Vydáno: (2013)
Оптические и волноводные свойства эпитаксиальных структур GaN/InGaN, выращенных на сапфировой подложке; Известия вузов. Физика; Т. 58, № 8-3
Vydáno: (2015)
Vydáno: (2015)
Время разрешенная фотолюминесцентная спектроскопия гетероструктур на основе InGaN/GaN-квантовых ям; Высокие технологии в современной науке и технике (ВТСНТ-2017)
Autor: Ли Цзысюань
Vydáno: (2017)
Autor: Ли Цзысюань
Vydáno: (2017)
Морфология разрушений в гетероструктурах InGaN/GaN под действием сильноточного электронного пучка; Письма в Журнал технической физики; Т. 41, вып. 15
Autor: Олешко В. И. Владимир Иванович
Vydáno: (2015)
Autor: Олешко В. И. Владимир Иванович
Vydáno: (2015)
Имульсная люминесценция гетероструктур на основе GaN; Современные техника и технологии; Т. 3
Autor: Васенев А. С.
Vydáno: (2012)
Autor: Васенев А. С.
Vydáno: (2012)
Влияние термо-и микроволновой обработок на свойства омических контактов K n-n+-n++ -Inp(GaAs, GaN); Известия вузов. Физика; Т. 54, № 1/2 : Радиационно-термические эффекты и процессы в неорганических материалах
Vydáno: (2011)
Vydáno: (2011)
Разработка макета дискретного быстродействующего драйвера управления силовыми GaN транзисторами; Интеллектуальные энергосистемы; Т. 3
Autor: Ерофеев Е. В.
Vydáno: (2017)
Autor: Ерофеев Е. В.
Vydáno: (2017)
Влияние дислокаций на люминесценцию эпитаксиальных слоев GaN; Высокие технологии в современной науке и технике
Vydáno: (2015)
Vydáno: (2015)
Podobné jednotky
-
Hysteresis of tunnel current in w-GaN/AlGaN(0001) double-barrier structures; Semiconductors; Vol. 42, iss. 5
Autor: Razzhuvalov A. N. Alexander Nikolaevich
Vydáno: (2008) -
A “capacitor” model of the hysteresis of tunneling current in w-GaN/AlGaN(0001) structures; Physics of the Solid State; Vol. 51, iss. 1
Autor: Razzhuvalov A. N. Alexander Nikolaevich
Vydáno: (2009) -
The effect of internal fields on tunneling current in strained GaN/AlxGa1-x N(0001) structures; Semiconductors; Vol. 37, iss. 4
Autor: Grinyaev S. N. Sergey Nikolaevich
Vydáno: (2003) -
Peculiarities of tunneling current in w-AlN/GaN(0001) two-barrier structures induced by deep-level defects; Journal of Applied Physics; Vol. 120, iss. 5
Autor: Grinyaev S. N. Sergey Nikolaevich
Vydáno: (2016) -
Tunneling current in w-GaN/AlN(0001) structures with deep-level defects; Superlattices and Microstructures; Vol. 122
Autor: Razzhuvalov A. N. Alexander Nikolaevich
Vydáno: (2018)