Физическое моделирование GaN/AlGaN HEMTнаногетероструктур и мощных СВЧ-транзисторовс использованием пакета Synopsys; Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники; № 2 (26), ч. 2

Detalhes bibliográficos
Parent link:Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники/ Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР).— , 1997-
№ 2 (26), ч. 2.— 2012.— [С. 145-151]
Autor Corporativo: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт Кафедра теоретической и экспериментальной физики
Outros Autores: Торхов Н. А. Николай Анатольевич, Бабак Л. И. Леонид Иванович, Божков В. Г. Владимир Григорьевич, Разжувалов А. Н. Александр Николаевич, Сальников А. С. Андрей Сергеевич
Resumo:Заглавие с экрана
Описаны и исследованы возможности программной системы Sentaurus TCAD Synopsys при физическом моделировании HEMT-наногетероструктур и СВЧ-транзисторов. Представлены результаты моделирования различных конструкций AlGaN/GaN HEMT-наногетероструктур с двумерным электронным газом, а также мощных СВЧ-транзисторов на основе этих гетероструктур. Показаны пути улучшения характеристик AlGaN/GaN HEMT-гетероструктур и приборов. Результаты моделирования подтверждены экспериментальным измерением параметров изготовленных тестовых GaN HEMT-транзисторов с длиной затвора 1 мкм.
Possibilities of the software tool Sentaurus TCAD Synopsys for physical simulation of HEMT-nanoheterostructures and microwave transistors are described and investigated. Simulation results of various AlGaN/GaN HEMT-nanoheterostructure constructions with two-dimensional electron gas as well as high-power microwave transistors based on these heterostructures are presented. The ways for improving characteristics of AlGaN/GaN HEMT-heterostructures and devices are shown. The simulation results are confirmed by experimental measurement of produced test GaN HEMT-transistors with a gate length of 1 micron.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Idioma:russo
Publicado em: 2012
Assuntos:
Acesso em linha:http://elibrary.ru/item.asp?id=18900092
http://old.tusur.ru/filearchive/reports-magazine/2012-26-2/145.pdf
Formato: Recurso Eletrônico Capítulo de Livro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=648184

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 648184
005 20250219152649.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\13341 
090 |a 648184 
100 |a 20160512d2012 k||y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Физическое моделирование GaN/AlGaN HEMTнаногетероструктур и мощных СВЧ-транзисторовс использованием пакета Synopsys  |d Physical simulation of GaN/AlGaN HEMT-heterostructures and power microwave transistors using Synopsys software  |f Н. А. Торхов [и др.] 
203 |a Текст  |c электронный 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a [Библиогр.: с. 150 (4 назв.)] 
330 |a Описаны и исследованы возможности программной системы Sentaurus TCAD Synopsys при физическом моделировании HEMT-наногетероструктур и СВЧ-транзисторов. Представлены результаты моделирования различных конструкций AlGaN/GaN HEMT-наногетероструктур с двумерным электронным газом, а также мощных СВЧ-транзисторов на основе этих гетероструктур. Показаны пути улучшения характеристик AlGaN/GaN HEMT-гетероструктур и приборов. Результаты моделирования подтверждены экспериментальным измерением параметров изготовленных тестовых GaN HEMT-транзисторов с длиной затвора 1 мкм. 
330 |a Possibilities of the software tool Sentaurus TCAD Synopsys for physical simulation of HEMT-nanoheterostructures and microwave transistors are described and investigated. Simulation results of various AlGaN/GaN HEMT-nanoheterostructure constructions with two-dimensional electron gas as well as high-power microwave transistors based on these heterostructures are presented. The ways for improving characteristics of AlGaN/GaN HEMT-heterostructures and devices are shown. The simulation results are confirmed by experimental measurement of produced test GaN HEMT-transistors with a gate length of 1 micron. 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
461 |t Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники  |f Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР)  |d 1997- 
463 |t № 2 (26), ч. 2  |v [С. 145-151]  |d 2012 
510 1 |a Physical simulation of GaN/AlGaN HEMT-heterostructures and power microwave transistors using Synopsys software  |z eng 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a GAN 
610 1 |a вольт-амперные характеристики 
701 1 |a Торхов  |b Н. А.  |g Николай Анатольевич 
701 1 |a Бабак  |b Л. И.  |g Леонид Иванович 
701 1 |a Божков  |b В. Г.  |g Владимир Григорьевич 
701 1 |a Разжувалов  |b А. Н.  |c физик  |c доцент Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук   |f 1976-  |g Александр Николаевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\33656  |9 17300 
701 1 |a Сальников  |b А. С.  |g Андрей Сергеевич 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |b Физико-технический институт  |b Кафедра теоретической и экспериментальной физики  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18726  |9 27175 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20160512  |g RCR 
856 4 |u http://elibrary.ru/item.asp?id=18900092 
856 4 |u http://old.tusur.ru/filearchive/reports-magazine/2012-26-2/145.pdf 
942 |c CF