Национальный исследовательский Томский политехнический университет Энергетический институт Кафедра электрических сетей и электротехники, Tien Anh Nguyen, Lefevre S. Stefan, Joubert P.-Y. Pierre-Yves, Labrousse D. Denis, & Bontemps S. Serge. (2015). Estimating Current Distributions in Power Semiconductor Dies Under Aging Conditions: Bond Wire Liftoff and Aluminum Reconstruction. 2015. https://doi.org/10.1109/TCPMT.2015.2406576
Chicago Style (17. basım) AtıfНациональный исследовательский Томский политехнический университет Энергетический институт Кафедра электрических сетей и электротехники, Tien Anh Nguyen, Lefevre S. Stefan, Joubert P.-Y. Pierre-Yves, Labrousse D. Denis, ve Bontemps S. Serge. Estimating Current Distributions in Power Semiconductor Dies Under Aging Conditions: Bond Wire Liftoff and Aluminum Reconstruction. 2015, 2015. https://doi.org/10.1109/TCPMT.2015.2406576.
MLA (9th ed.) AtıfНациональный исследовательский Томский политехнический университет Энергетический институт Кафедра электрических сетей и электротехники, et al. Estimating Current Distributions in Power Semiconductor Dies Under Aging Conditions: Bond Wire Liftoff and Aluminum Reconstruction. 2015, 2015. https://doi.org/10.1109/TCPMT.2015.2406576.