Analysis of Natural Diamonds by Rutherford Backscattering; Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques; Vol. 13, iss. 4

書誌詳細
Parent link:Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques
Vol. 13, iss. 4.— 2019
共著者: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Научная лаборатория радиоактивных веществ и технологий, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение экспериментальной физики
その他の著者: Sokhoreva V. V. Valentina Viktorovna, Malyutin V. M. Vasiliy Mikhailovich, Kashkarov E. B. Egor Borisovich, Kuznetsov S. I. Sergey Ivanovich
要約:Title screen
The method of Rutherford backscattering (RBS) of 4He ions is used to detect impurities in the surface region of natural diamond crystals. In order to decrease the influence of luminescence from the surface of diamond, the recording of scattered ions is performed by an annular detector, which decreases the statistical error and improves the measurement accuracy. The limit of impurity detection is 1014 at/cm2 for light impurities and 1012 at/cm2 for heavy impurities.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
言語:英語
出版事項: 2019
主題:
オンライン・アクセス:https://doi.org/10.1134/S1027451019040359
フォーマット: 電子媒体 図書の章
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=647909

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 647909
005 20250218113757.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\13066 
090 |a 647909 
100 |a 20160427d2019 k||y0rusy50 ba 
101 0 |a eng 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Analysis of Natural Diamonds by Rutherford Backscattering  |f V. V. Sokhoreva, V. M. Malyutin, E. B. Kashkarov, S. I. Kuznetsov 
203 |a Text  |c electronic 
300 |a Title screen 
320 |a [References: 13 tit.] 
330 |a The method of Rutherford backscattering (RBS) of 4He ions is used to detect impurities in the surface region of natural diamond crystals. In order to decrease the influence of luminescence from the surface of diamond, the recording of scattered ions is performed by an annular detector, which decreases the statistical error and improves the measurement accuracy. The limit of impurity detection is 1014 at/cm2 for light impurities and 1012 at/cm2 for heavy impurities. 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
461 |t Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques 
463 |t Vol. 13, iss. 4  |o [P. 740-743]  |d 2019 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a surface region 
610 1 |a impurities 
610 1 |a natural diamonds 
610 1 |a energy resolution 
610 1 |a annular detector 
610 1 |a accelerator 
610 1 |a ions of helium 
610 1 |a froth floatation 
610 1 |a adhesion method 
610 1 |a поверхности 
610 1 |a примеси 
610 1 |a природные алмазы 
610 1 |a вспенивание 
610 1 |a адгезия 
701 1 |a Sokhoreva  |b V. V.  |c physicist  |c Senior researcher of Tomsk Polytechnic University  |f 1944-  |g Valentina Viktorovna  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\31213  |9 15409 
701 1 |a Malyutin  |b V. M.  |c physicist  |c Senior Lecturer of Tomsk Polytechnic University  |f 1961-  |g Vasiliy Mikhailovich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\34222  |9 17753 
701 1 |a Kashkarov  |b E. B.  |c Physicist  |c Associate Professor, Researcher of Tomsk Polytechnic University, Candidate of Physical and Mathematical Sciences  |f 1991-  |g Egor Borisovich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\34949  |9 18267 
701 1 |a Kuznetsov  |b S. I.  |c physicist  |c associate professor of Tomsk polytechnic university, candidate of technical sciences (PhD)  |f 1952-  |g Sergey Ivanovich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\30071  |9 14491 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |b Инженерная школа ядерных технологий  |b Научная лаборатория радиоактивных веществ и технологий  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\25818  |9 28534 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |b Инженерная школа ядерных технологий  |b Отделение экспериментальной физики  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\23549 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20200625  |g RCR 
856 4 |u https://doi.org/10.1134/S1027451019040359 
942 |c CF