Fast High-Resolution Simulation of the Gross Slip Wear of Axially Symmetric Contacts; Tribology Transactions; Vol. 59, iss. 1

Fast High-Resolution Simulation of the Gross Slip Wear of Axially Symmetric Contacts; Tribology Transactions; Vol. 59, iss. 1

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
Parent link:Tribology Transactions
Vol. 59, iss. 1.— 2016.— [P. 189-194]
সংস্থা লেখক: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт кибернетики Кафедра технологии автоматизированного машиностроительного производства, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт физики высоких технологий Кафедра физики высоких технологий в машиностроении Сетевая научно-образовательная лаборатория "Медицинское материаловедение"
অন্যান্য লেখক: Dimaki A. V. Andrey Viktorovich, Dmitriev A. I. Andrey Ivanovich, Menga N., Papangelo A., Ciavarella M., Popov V. L. Valentin Leonidovich
সংক্ষিপ্ত:Title screen
In the present article, we study the development of a wear profile in an axially symmetric contact under conditions of gross slip and assumption of the Reye-Archard wear criterion. Simulations are carried out using the method of dimensionality reduction and a full finite element method (FEM) formulation. The calculation time of the proposed model is several orders lower than that of FEM-based models and allows for much higher spatial resolution.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
ভাষা:ইংরেজি
প্রকাশিত: 2016
বিষয়গুলি:
электронный ресурс
труды учёных ТПУ
অনলাইন ব্যবহার করুন:http://dx.doi.org/10.1080/10402004.2015.1065529
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক গ্রন্থের অধ্যায়
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=647449
বিবরন
সংক্ষিপ্ত:Title screen
In the present article, we study the development of a wear profile in an axially symmetric contact under conditions of gross slip and assumption of the Reye-Archard wear criterion. Simulations are carried out using the method of dimensionality reduction and a full finite element method (FEM) formulation. The calculation time of the proposed model is several orders lower than that of FEM-based models and allows for much higher spatial resolution.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
ডিওআই:10.1080/10402004.2015.1065529

অনুরূপ উপাদানগুলি