Refinement of Techniques Metallographic Analysis of Highly Dispersed Structures; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 671 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015)

Refinement of Techniques Metallographic Analysis of Highly Dispersed Structures; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 671 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015)

Մատենագիտական մանրամասներ
Parent link:Journal of Physics: Conference Series
Vol. 671 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015).— 2016.— [012025, 4 p.]
Հիմնական հեղինակ: Khammatov A. N. Aleksandr Nail'evich
Համատեղ հեղինակ: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра оборудования и технологии сварочного производства (ОТСП)
Այլ հեղինակներ: Belkin D. S. Denis Sergeevich, Barbina N. V. Nina Vladimirovna
Ամփոփում:Title screen
Flaws are regularly made while developing standards and technical specifications. They can come out as minor misprints, as an insufficient description of a technique. In spite the fact that the flaws are well known, it does not come to the stage of introducing changes to standards. In this paper shows that in the normative documents is necessary to clarify the requirements for metallurgical microscopes, which are used for analysis of finely-dispersed.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: 2016
Խորագրեր:
электронный ресурс
труды учёных ТПУ
упрочнение
металлографический анализ
высокодисперсные структуры
металлографические микроскопы
мелкодисперсные примеси
Առցանց հասանելիություն:http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/671/1/012025
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/33734
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային Գրքի գլուխ
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=647165

Նմանատիպ նյութեր

Նմանատիպ նյութեր