Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК), Vasendina E. A. Elena Aleksandrovna, Plotnikova I. V. Inna Vasilievna, Levitskaya A. Anastasiya, & Kvesko S. Svetlana. (2016). Detection and defect correction of operating process. 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/110/1/012070
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК), Vasendina E. A. Elena Aleksandrovna, Plotnikova I. V. Inna Vasilievna, Levitskaya A. Anastasiya, and Kvesko S. Svetlana. Detection and Defect Correction of Operating Process. 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/110/1/012070.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК), et al. Detection and Defect Correction of Operating Process. 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/110/1/012070.