Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК), Vasendina E. A. Elena Aleksandrovna, Plotnikova I. V. Inna Vasilievna, Levitskaya A. Anastasiya, & Kvesko S. Svetlana. (2016). Detection and defect correction of operating process; IOP Conference Series: Materials Science and Engineering; Vol. 110 : Radiation-Thermal Effects and Processes in Inorganic Materials (RTEP2015). 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/110/1/012070
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК), Vasendina E. A. Elena Aleksandrovna, Plotnikova I. V. Inna Vasilievna, Levitskaya A. Anastasiya, and Kvesko S. Svetlana. Detection and Defect Correction of Operating Process; IOP Conference Series: Materials Science and Engineering; Vol. 110 : Radiation-Thermal Effects and Processes in Inorganic Materials (RTEP2015). 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/110/1/012070.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК), et al. Detection and Defect Correction of Operating Process; IOP Conference Series: Materials Science and Engineering; Vol. 110 : Radiation-Thermal Effects and Processes in Inorganic Materials (RTEP2015). 2016, 2016. https://doi.org/10.1088/1757-899X/110/1/012070.