Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК), Русских А. Г. Александр Геннадьевич, Жигалин А. С. Александр Сергеевич, Орешкин В. И. Владимир Иванович, & Митрофанов К. Н. Константин Николаевич. (2015). Влияние плотной низкотемпературной плазмы на измерения индуктивными петлями; Известия вузов. Физика; Т. 58, № 9-2. 2015.
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК), Русских А. Г. Александр Геннадьевич, Жигалин А. С. Александр Сергеевич, Орешкин В. И. Владимир Иванович, and Митрофанов К. Н. Константин Николаевич. Влияние плотной низкотемпературной плазмы на измерения индуктивными петлями; Известия вузов. Физика; Т. 58, № 9-2. 2015, 2015.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК), et al. Влияние плотной низкотемпературной плазмы на измерения индуктивными петлями; Известия вузов. Физика; Т. 58, № 9-2. 2015, 2015.