Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК), Русских А. Г. Александр Геннадьевич, Жигалин А. С. Александр Сергеевич, Орешкин В. И. Владимир Иванович, & Митрофанов К. Н. Константин Николаевич. (2015). Влияние плотной низкотемпературной плазмы на измерения индуктивными петлями. 2015.
Chicago (17e ed.) BronvermeldingНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК), Русских А. Г. Александр Геннадьевич, Жигалин А. С. Александр Сергеевич, Орешкин В. И. Владимир Иванович, en Митрофанов К. Н. Константин Николаевич. Влияние плотной низкотемпературной плазмы на измерения индуктивными петлями. 2015, 2015.
MLA (9e ed.) BronvermeldingНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК), et al. Влияние плотной низкотемпературной плазмы на измерения индуктивными петлями. 2015, 2015.