Role of Crystallographic Anisotropy in the Formation of Surface Layers of Single NiTi Crystals after Ion-Plasma Alloying; AIP Conference Proceedings; Vol. 1683 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures

Opis bibliograficzny
Parent link:AIP Conference Proceedings
Vol. 1683 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures.— 2015.— [020184, 4 p.]
Korporacja: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Центр измерений свойств материалов (ЦИСМ)
Kolejni autorzy: Poletika T. M., Meisner L. L., Girsova S. L., Meisner S. N., Shulepov I. A. Ivan Anisimovich
Streszczenie:Title screen
The structure of the surface and near-surface layers of single crystals of NiTi, differently oriented relative to the direction of ion beam treatment was investigated. The role of the crystallographic orientation in formation of structure of surface layers after ion-plasma alloying was revealed. It was found that the orientation effects of selective sputtering and channeling determine the thickness of the oxide and amorphous layers, the depth of penetration of ions and impurities, the distribution of Ni with depth.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Język:angielski
Wydane: 2015
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:http://dx.doi.org/10.1063/1.4932874
Format: Elektroniczne Rozdział
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=644993

MARC

LEADER 00000nla2a2200000 4500
001 644993
005 20231101134337.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\10077 
035 |a RU\TPU\network\10076 
090 |a 644993 
100 |a 20151207a2015 k y0engy50 ba 
101 0 |a eng 
105 |a y z 100zy 
135 |a drgn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Role of Crystallographic Anisotropy in the Formation of Surface Layers of Single NiTi Crystals after Ion-Plasma Alloying  |f T. M. Poletika [et al.] 
203 |a Text  |c electronic 
300 |a Title screen 
320 |a [References: 7 tit.] 
330 |a The structure of the surface and near-surface layers of single crystals of NiTi, differently oriented relative to the direction of ion beam treatment was investigated. The role of the crystallographic orientation in formation of structure of surface layers after ion-plasma alloying was revealed. It was found that the orientation effects of selective sputtering and channeling determine the thickness of the oxide and amorphous layers, the depth of penetration of ions and impurities, the distribution of Ni with depth. 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
461 0 |0 (RuTPU)RU\TPU\network\4816  |t AIP Conference Proceedings 
463 0 |0 (RuTPU)RU\TPU\network\9779  |t Vol. 1683 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures  |o Proceedings of the International Conference, 21–25 September 2015, Tomsk, Russia  |f National Research Tomsk Polytechnic University (TPU) ; ed. V. E. Panin ; S. G. Psakhie ; V. M. Fomin  |v [020184, 4 p.]  |d 2015 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a анизотропия 
610 1 |a поверхностные слои 
610 1 |a кристаллы 
610 1 |a легирование 
610 1 |a монокристаллы 
610 1 |a ионные пучки 
701 1 |a Poletika  |b T. M. 
701 1 |a Meisner  |b L. L. 
701 1 |a Girsova  |b S. L. 
701 1 |a Meisner  |b S. N. 
701 1 |a Shulepov  |b I. A.  |c physicist  |c Engineer-designer of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical sciences  |f 1954-  |g Ivan Anisimovich  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\33092 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Физико-технический институт (ФТИ)  |b Центр измерений свойств материалов (ЦИСМ)  |h 6684  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\19361 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20151207  |g RCR 
856 4 |u http://dx.doi.org/10.1063/1.4932874 
942 |c CF