APA (7th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра материаловедения в машиностроении (ММС), Burkov M. V. Mikhail Vladimirovich, Lyubutin P. S. Pavel Stepanovich, Byakov A. V. Anton Viktorovich, & Panin S. V. Sergey Viktorovich. (2015). Development of High Resolution Shearography Device for Non-destructive Testing of Composite Materials; AIP Conference Proceedings; Vol. 1683: Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures. 2015. https://doi.org/10.1063/1.4932719

Chicago Style (17th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра материаловедения в машиностроении (ММС), Burkov M. V. Mikhail Vladimirovich, Lyubutin P. S. Pavel Stepanovich, Byakov A. V. Anton Viktorovich, and Panin S. V. Sergey Viktorovich. Development of High Resolution Shearography Device for Non-destructive Testing of Composite Materials; AIP Conference Proceedings; Vol. 1683: Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures. 2015, 2015. https://doi.org/10.1063/1.4932719.

MLA (9th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт физики высоких технологий (ИФВТ) Кафедра материаловедения в машиностроении (ММС), et al. Development of High Resolution Shearography Device for Non-destructive Testing of Composite Materials; AIP Conference Proceedings; Vol. 1683: Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures. 2015, 2015. https://doi.org/10.1063/1.4932719.