Radiation resistance of light-emitting diodes based on algaas-heterostructures to fast neutron and electron radiation; Известия вузов. Физика; Т. 57, № 12, ч. 3

التفاصيل البيبلوغرافية
Parent link:Известия вузов. Физика: научный журнал.— , 1957-
Т. 57, № 12, ч. 3.— 2014.— [С. 73-75]
المؤلف الرئيسي: Rubanov P. V. Pavel Vladimirovich
مؤلفون مشاركون: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Лаборатория № 51 (Радиационных испытаний материалов и изделий), Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Юргинский технологический институт (филиал) (ЮТИ) Кафедра естественного научного образования (ЕНО)
مؤلفون آخرون: Gradoboev A. V. Aleksandr Vasilyevich
الملخص:Заглавие с экрана
In the article it is determined that under separate fast neutron and electron radiation the decrease in emission intensity of light-emitting diodes based on AlGaAs - heterostructures follows in two phases. First, the emission intensity is decreasing because of the rearrangement of the defect structure, second, as the radiation defects only are introduced. The preliminary fast neutron radiation followed by that of electron causes the diminishing of the first phase in the degradation process, on the whole, and the preliminary electron radiation followed by that of neutron leads to the renewal of emission intensity in the first phase of degradation.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
اللغة:الإنجليزية
منشور في: 2014
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://elibrary.ru/item.asp?id=23815756
التنسيق: الكتروني فصل الكتاب
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=643599

مواد مشابهة