Оптические свойства и морфология композитных пленок СЕО 2-SIO 2; Известия вузов. Физика; Т. 57, № 7-2

Dades bibliogràfiques
Parent link:	Известия вузов. Физика: научный журнал.— , 1957- Т. 57, № 7-2.— 2014.— [С. 192-196]
Autor principal:	Халипова О. С. Ольга Сергеевна
Autor corporatiu:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Юргинский технологический институт (филиал) (ЮТИ) Кафедра безопасности жизнедеятельности, экологии и физического воспитания (БЖДЭФВ)
Altres autors:	Кузнецова С. А. Светлана Анатольевна, Мальчик А. Г. Александра Геннадьевна
Sumari:	Заглавие с экрана Изучаются оптические свойства и морфология поверхности композитных пленок СеО 2-SiO 2, получаемых из пленкообразующих растворов методом вытягивания. Методами рентгенофазового и микрорентгеноспектрального анализов с привлечением растровой электронной микроскопии установлено, что оксидные системы СеО 2-SiO 2, полученные в тонкопленочном состоянии на стеклянных и кварцевых подложках, представляют собой смесь оксидов церия(IV) (кубическая модификация) и кремния(IV) (аморфная фаза). Соотношение оксидов оказывает влияние на дефектность структуры пленок по кислороду, морфологию поверхности, толщину и пропускание в видимой области спектра. Увеличение содержания оксида кремния(IV) в составе пленок СеО 2- SiO 2 приводит к снижению их толщины с 54 до 35 нм, увеличению коэффициента пропускания в видимой области спектра при ? = 400 нм от ~ 88.7 % (пленки с ?(SiO 2) = 20 мас. %) до ~ 96.0 % (пленки с ?(SiO 2) = = 80 мас. %). In present work optical properties and microstructure of dip-coated СеО 2-SiO 2 thin films were studied by X-Ray Diffraction, Scanning Electron Microscopy (FE-SEM) coupled to electron microprobe analysis, spectrophotometry and ellipsometry. The resulting deposit СеО 2-SiO 2samples consist of nanocrystalline CeO 2 (cubic structure) in mixed with SiO 2 (amorphous phase). It was demonstrated that the ratio of the oxides has led to change in morphology, thickness, optical transparency in the visible region and surface imperfection on the cerium cation. Increasing the content of silicon oxide(IV) leads to a decrease in the thickness of CeO 2-SiO 2 from 54 to 35 nm, an increase in transmittance in the visible spectrum at ? = 400 nm of ~ 88.7 % (film ?(SiO 2) = 20 wt. %) to about 96.0 % (film ?(SiO 2) = 80 wt. %). Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Idioma:	rus
Publicat:	2014
Matèries:	электронный ресурс труды учёных ТПУ тонкие пленки оксид церия оксид кремния поглощение спектры
Accés en línia:	http://elibrary.ru/item.asp?id=23184837
Format:	Electrònic Capítol de llibre
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=643512