Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Осипов С. П. Сергей Павлович, Подшивалов И. И. Иван Иванович, Осипов О. С. Олег Сергеевич, Алибекова А. А. Асел Айдынбеккызы, & Чесноков Д. В. Даниил Владиславович. (2015). Способ оценки площади оптической неоднородности на основе анализа цифровых изображений; Вестник Томского государственного архитектурно-строительного университета; № 3 (50). 2015.
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет, Осипов С. П. Сергей Павлович, Подшивалов И. И. Иван Иванович, Осипов О. С. Олег Сергеевич, Алибекова А. А. Асел Айдынбеккызы, and Чесноков Д. В. Даниил Владиславович. Способ оценки площади оптической неоднородности на основе анализа цифровых изображений; Вестник Томского государственного архитектурно-строительного университета; № 3 (50). 2015, 2015.
ציטוט MLAНациональный исследовательский Томский политехнический университет, et al. Способ оценки площади оптической неоднородности на основе анализа цифровых изображений; Вестник Томского государственного архитектурно-строительного университета; № 3 (50). 2015, 2015.