Idioma
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Todos os campos
Title
Autor
Subject
ISBN/ISSN
Tag
Identificador
Buscar
Avanzado
X-ray diffraction method for d...
Text this
Text this:
X-ray diffraction method for determination of interplanar spacing and temperature distribution in crystals under an external temperature gradient; Journal of Applied Crystallography; Vol. 48, P. 3
Número:
Provedor:
Seleccione a súa compañía
Alltel
AT&T
Cricket
Nextel
Sprint
T Mobile
Verizon
Virgin Mobile