Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), Kocharian V. R. Vagan Rashidovich, Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Movsisyan A. E. Artur Egisheevich, Beybutyan A. H., Khlopuzyan S. G., & Aloyan L. Lusine. (2015). X-ray diffraction method for determination of interplanar spacing and temperature distribution in crystals under an external temperature gradient; Journal of Applied Crystallography; Vol. 48, P. 3. 2015. https://doi.org/10.1107/S1600576715006913
Chicago Style (17. basım) AtıfНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), Kocharian V. R. Vagan Rashidovich, Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, Movsisyan A. E. Artur Egisheevich, Beybutyan A. H., Khlopuzyan S. G., ve Aloyan L. Lusine. X-ray Diffraction Method for Determination of Interplanar Spacing and Temperature Distribution in Crystals Under an External Temperature Gradient; Journal of Applied Crystallography; Vol. 48, P. 3. 2015, 2015. https://doi.org/10.1107/S1600576715006913.
MLA (9th ed.) AtıfНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), et al. X-ray Diffraction Method for Determination of Interplanar Spacing and Temperature Distribution in Crystals Under an External Temperature Gradient; Journal of Applied Crystallography; Vol. 48, P. 3. 2015, 2015. https://doi.org/10.1107/S1600576715006913.